[发明专利]硬盘的全自动化测试装置及其工艺

说明书

本发明公开的属于硬盘测试技术领域，具体为硬盘的全自动化测试装置及其工艺，包括支撑装置，所述支撑装置上安装有驱动装置，所述驱动装置上安装有支撑板，所述支撑板底端固定安装有支撑轨道，所述支撑轨道上安装有第一测试装置和第二测试装置，所述支撑装置安装有放置盘；所述驱动装置包括第一伺服电机，本发明的有益效果是：通过设置第一测试装置和第二测试装置，交错并同时对单数磁道和偶数磁道进行测试，使得探针之间的距离小，探针相互之间不会产生测试干扰，并且探针可以制作得更粗，使探针不易折断，硬盘的固定稳定，且为弹性固定，不会对硬盘产生伤害，并通过设置的驱动装置带动探针进行升降和旋转，探针的运行稳定。

技术领域

本发明涉及硬盘测试技术领域，具体为硬盘的全自动化测试装置及其工艺。

背景技术

电脑硬盘是计算机最主要的存储设备。硬盘由一个或者多个铝制或者玻璃制的碟片组成。这些碟片外覆盖有铁磁性材料；绝大多数硬盘都是固定硬盘，被永久性地密封固定在硬盘驱动器中。早期的硬盘存储媒介是可替换的，不过今日典型的硬盘是固定的存储媒介，被封在硬盘里(除了一个过滤孔，用来平衡空气压力)。随着发展，可移动硬盘也出现了，而且越来越普及，种类也越来越多.大多数微机上安装的硬盘，由于都采用温切斯特技术而被称之为“温切斯特硬盘”，或简称“温盘”。

现有的硬盘测试装置，每个磁道上都有一个探针进行测试，相邻探针之间的距离很小，导致探头很密集，使得探针只能制造得很细，探针容易折断；并且探针太过密集，相邻之间的探针会相互干扰测试。

发明内容

鉴于现有硬盘的全自动化测试装置及其工艺中存在的问题，提出了本发明。

因此，本发明的目的是提供硬盘的全自动化测试装置及其工艺，通过设置第一测试装置和第二测试装置，使得探针之间的距离为两倍的磁道距离，从而探针不会过于密集，探针可以设置更粗而不易折断，并且探针相互之间不会发生测试干扰，解决了现有的硬盘测试装置，每个磁道上都有一个探针进行测试，相邻探针之间的距离很小，导致探头很密集，使得探针只能制造得很细，探针容易折断；并且探针太过密集，相邻之间的探针会相互干扰测试的问题。

为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，本发明提供了如下技术方案：

硬盘的全自动化测试装置，包括支撑装置，所述支撑装置上安装有驱动装置，所述驱动装置上安装有支撑板，所述支撑板底端固定安装有支撑轨道，所述支撑轨道上安装有第一测试装置和第二测试装置，所述支撑装置安装有放置盘；

所述驱动装置包括第一伺服电机，所述第一伺服电机的输出轴固定连接第一转轴，所述第一转轴远离所述第一伺服电机的一端转动连接第一丝杆，所述第一丝杆外壁螺纹连接螺母，所述螺母外侧套设有升降块，所述螺母和升降块通过螺栓固定，所述升降块一端固定连接支撑杆，所述支撑杆一端通过螺栓连接第三固定座，所述第三固定座一端固定连接升降板，所述升降板底端通过螺栓连接机箱，所述机箱内设有第二伺服电机，所述第二伺服电机的输出轴固定连接竖杆；

所述第一测试装置包括第三伺服电机，所述第三伺服电机的输出轴固定连接第二转轴，所述第二转轴转动连接第二丝杆，所述第二丝杆外壁螺纹连接第一内螺纹块，所述第一内螺纹块底端固定连接第一探针，所述第三伺服电机一端固定连接竖板，所述竖板一端固定连接支撑板；

所述第二测试装置包括第四伺服电机，所述第四伺服电机的输出轴固定连接第三转轴，所述第三转轴转动连接第三丝杆，所述第三丝杆外壁螺纹连接第二内螺纹块，所述第二内螺纹块底端固定连接第二探针，所述第四伺服电机一端固定连接竖板。

作为本发明所述的硬盘的全自动化测试装置的一种优选方案，其中：所述第一丝杆顶端固定安装有第一链轮，所述第一转轴顶端固定安装有第二链轮，所述第一链轮和第二链轮通过第一链条传动连接。