[发明专利]一种光缆故障点定位方法、装置、设备及介质在审
| 申请号: | 202111645841.4 | 申请日: | 2021-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN114362819A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
| 发明(设计)人: | 彭张柱 | 申请(专利权)人: | 中国电信股份有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04B10/071;H04B10/25 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 马敬;项京 |
| 地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光缆 故障 定位 方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种光缆故障点定位方法,其特征在于,包括:
获取测量起点至故障点之间的第一打光距离,所述第一打光距离为通过在所述测量起点向待测光缆段发射光信号获取到的所述测量起点与故障点之间的打光距离;
基于所述第一打光距离和所述测量起点到所述待测光缆段上的各熔接点的打光距离,确定第一基准点以及第二基准点,所述第一基准点为所述故障点一侧距离所述故障点最近的熔接点,所述第二基准点为所述故障点另一侧距离所述故障点最近的熔接点;
获取所述第一基准点与所述第二基准点之间的光缆标识桩的位置;
基于所述第一打光距离、所述第一基准点与所述第二基准点之间的光缆标识桩的位置,确定所述故障点的位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第一打光距离和所述测量起点到所述待测光缆段上的各熔接点的打光距离,确定第一基准点以及第二基准点,包括:
基于所述第一打光距离和所述测量起点到所述待测光缆段上的各熔接点的打光距离,确定与所述故障点距离最近的目标熔接点;
如果所述测量起点至与所述目标熔接点的第二打光距离小于所述第一打光距离,则确定所述第一基准点为所述目标熔接点,所述第二基准点为在所述测量起点至所述目标熔接点方向上,所述目标熔接点的下一熔接点;
如果所述第二打光距离大于所述第一打光距离,则所述第二基准点为所述目标熔接点,所述第一基准点为在所述测量起点至所述目标熔接点方向上,所述目标熔接点的上一熔接点。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述第一打光距离和所述测量起点到所述待测光缆段上的各熔接点的打光距离,确定与所述故障点距离最近的目标熔接点,包括:
将所述测量起点到所述待测光缆段上的各熔接点的打光距离分别与所述第一打光距离相减,取各差值的绝对值,得到各熔接点与故障点之间的距离;
确定各熔接点与所述故障点之间的距离的最小值,得到与所述故障点距离最近的所述目标熔接点。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一打光距离、所述第一基准点与所述第二基准点之间的光缆标识桩的位置,确定所述故障点的位置,包括:
根据以下表达式计算所述故障点的位置:
Bpgeometry=ST_LineInterpolatePoint(geometryBM,(BP-BMg1)/(ST_Length(sd_st_transform(geometryBM,26986))));
其中,geometryBM=st_makeline(geometry[g1、g2…gn-1、gn]);
geometryBM为所述第一基准点至所述第二基准点之间的曲线的位置信息;
st_makeline()函数用于由点生成线;
g1为第一基准点的经纬度对应的GIS信息,gn为第二基准点的经纬度对应的GIS信息,g2…gn-1依次表示从第一基准点至第二基准点方向上的光缆标识桩的经纬度对应的GIS信息;
BP为所述第一打光距离;
BMg1为所述测试起点至所述第一基准点的打光距离;
函数sd_st_transform(,26986)用于将所述第一基准点至所述第二基准点之间的曲线的位置信息转换为26986坐标系中的位置坐标;
函数ST_Length()用于根据转换得到的所述26986坐标系的位置坐标计算所述第一基准点至所述第二基准点之间的曲线在所述26986坐标系中的长度。
5.根据权利要求1-4任一项所述方法,其特征在于,在基于所述第一打光距离、所述第一基准点与所述第二基准点之间的光缆标识桩的位置,确定所述故障点的位置之后,所述方法还包括:
将所述故障点位置展示在地理信息系统GIS界面的GIS地图上。
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