[发明专利]光学系统、镜头模组和电子设备

权利要求书

1.一种光学系统，其特征在于，共有八片具有曲折力的透镜，从物侧到像侧沿光轴依次包括：

具有正曲折力的第一透镜，所述第一透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凹面；

光阑；

具有正曲折力的第二透镜，所述第二透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凸面；

具有正曲折力的第三透镜，所述第三透镜的物侧面于近光轴处为凹面，像侧面于近光轴处为凸面；

具有负曲折力的第四透镜，所述第四透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凹面；

具有正曲折力的第五透镜，所述第五透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凹面；

具有负曲折力的第六透镜，所述第六透镜的物侧面于近光轴处为凹面，像侧面于近光轴处为凹面；

具有正曲折力的第七透镜，所述第七透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凸面；

具有负曲折力的第八透镜，所述第八透镜的物侧面于近光轴处为凸面，像侧面于近光轴处为凹面；

所述第一透镜至所述第八透镜中至少包含一个非球面；

所述光学系统满足关系式：0.75DL/TTL1；1(|SAG81|+SAG82)/CT82；

其中，DL为所述第一透镜物侧面与所述第八透镜像侧面于光轴上的距离，TTL为所述第一透镜物侧面至所述光学系统成像面于光轴上的距离；SAG81为所述第八透镜物侧面在光轴上的交点至所述第八透镜物侧面的最大有效半径位置的水平位移量，SAG82为所述第八透镜像侧面在光轴上的交点至所述第八透镜像侧面的最大有效半径位置的水平位移量，CT8为所述第八透镜于光轴上的厚度。

2.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

TTL/(ImgH*2)/f0.2；

其中，ImgH为所述光学系统最大视场角对应像高的一半，f为所述光学系统的有效焦距。

3.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

4|f8|/SAG818；

其中，f8为所述第八透镜的有效焦距，SAG81为所述第八透镜物侧面在光轴上的交点至所述第八透镜物侧面的最大有效半径位置的水平位移量。

4.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

3|f8|/|SAG82|8；

其中，f8为所述第八透镜的有效焦距，SAG82为所述第八透镜像侧面在光轴上的交点至所述第八透镜像侧面的最大有效半径位置的水平位移量。

5.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

|SAG11/SAG82|1；

其中，SAG11为所述第一透镜物侧面在光轴上的交点至所述第一透镜物侧面的最大有效半径位置的水平位移量；SAG82为所述第八透镜像侧面在光轴上的交点至所述第八透镜像侧面的最大有效半径位置的水平位移量。

6.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

6|f7/SAG72|9；

其中，f7为所述第八透镜的有效焦距，SAG72为所述第七透镜像侧面在光轴上的交点至所述第七透镜像侧面的最大有效半径位置的水平位移量。

7.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

0Yc82/SD821；

其中，Yc82为所述第八透镜像侧面最凸出位置于光轴上的垂轴高度，SD82为所述第八透镜像侧面的最大有效半口径。

8.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统满足关系式：

f1/f5；

其中，f1为所述第一透镜的有效焦距，f为所述光学系统的有效焦距。