[发明专利]一种拱形建筑顶高测量装置及其测量工艺有效
申请号: | 202111638181.7 | 申请日: | 2021-12-29 |
公开(公告)号: | CN114295067B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 张振华 | 申请(专利权)人: | 中咨华源(北京)咨询有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01C3/00;G01C3/02 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 朱文吉 |
地址: | 100089 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 拱形 建筑 测量 装置 及其 工艺 | ||
1.一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:包括底座(1)、立柱(2)和红外线测距仪(3),所述立柱(2)竖直设置于所述底座(1)上,并且所述立柱(2)的上端竖直设置有光屏板(21),所述立柱(2)上竖直滑动连接有滑动杆(22),所述红外线测距仪(3)固定于所述滑动杆(22)的顶端,并且所述立柱(2)上设置有控制所述滑动杆(22)竖直滑移的驱动机构(4),所述底座(1)包括座体(11)、支座(12)和一对夹板(13),所述支座(12)设置于所述座体(11)上,一对所述夹板(13)竖直设置于所述支座(12)上,并夹持所述立柱(2)的下端两侧,所述立柱(2)与所述夹板(13)转动连接,并且所述夹板(13)上插接有抵触所述立柱(2)两侧的锁板(16)。
2.根据权利要求1所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述驱动机构(4)包括齿条(41)、齿轮(42)和手柄(43),所述齿条(41)竖直设置于所述滑动杆(22)的外壁,所述齿轮(42)转动设置于所述立柱(2)内部,所述手柄(43)位于所述立柱(2)外,且与所述齿轮(42)相固定。
3.根据权利要求2所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述手柄(43)上设置有弹性的卡针(44),所述立柱(2)的外壁设置有一圈环绕所述卡针(44)且供所述卡针(44)抵触的卡块(23)。
4.根据权利要求1所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述滑动杆(22)包括管体(24)和杆体(25),所述杆体(25)竖直滑动连接于所述管体(24),并且所述杆体(25)的外壁设置有限位块(26),所述管体(24)的内壁设置有供所述限位块(26)滑移的限位槽(27),所述管体(24)的上端转动连接有手轮(28),所述手轮(28)与所述杆体(25)螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述红外线测距仪(3)上设置有抵触所述光屏板(21)的标尺(31),所述标尺(31)的上端与所述红外线测距仪(3)的激光发射点位置相平齐。
6.根据权利要求1所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述支座(12)与所述座体(11)水平滑动连接,所述支座(12)上设置有抵触所述座体(11)表面的摩擦块(15)。
7.根据权利要求1所述的一种拱形建筑顶高测量装置,其特征在于:所述座体(11)的表面设置有水平尺(14)。
8.一种拱形建筑顶高测量工艺,其特征在于:包括如下步骤:
S1,首先在拱形建筑物外部测量出拱形建筑物垂直段的高度,并记录数值;
S2,在拱形建筑物垂直段的最高点位置处水平发出一道标准激光,并照射在光屏板(21)上;
S3,调整红外线测距仪(3)的高度位置,使红外线测距仪(3)的激光发射点位置与标准激光相平齐;
S4,控制红外线测距仪(3)往复摆动,同时水平调整红外线测距仪(3)的位置,观察红外线测距仪(3)的数值,确定拱形建筑的圆心点位置,并记录数值;
S5,将垂直段和拱形段的数值相加,完成拱形建筑物顶高的测量。
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