[发明专利]一种LED芯片及其制造方法在审
| 申请号: | 202111620029.6 | 申请日: | 2021-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN114497109A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
| 发明(设计)人: | 梁兴华;洪灿皇;张乾;谷天赐;范伟宏 | 申请(专利权)人: | 厦门士兰明镓化合物半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L21/78 |
| 代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 甄丹凤 |
| 地址: | 361012 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种LED芯片,其特征在于,包括:
衬底;
外延层,位于所述衬底的第一表面,所述外延层包括第一半导体层、有源层和第二半导体层;
第一电极,与所述第一半导体层电连接;
第二电极,与所述第二半导体层电连接;以及
预切割道,位于所述外延层的侧壁内侧,以阻隔切割对所述外延层产生的亚表面损伤。
2.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道为从所述外延层表面向所述衬底方向延伸的环形凹槽。
3.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道至少贯穿所述外延层。
4.根据权利要求3所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道从所述外延层表面向所述衬底方向延伸,底部延伸至所述衬底中。
5.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的深度为15μm~20μm。
6.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道临近所述LED芯片的外侧壁的侧壁与所述LED芯片的外侧壁之间的距离大于等于零。
7.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的中心与所述LED芯片的外侧壁的距离为1μm~3μm。
8.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道沿所述LED芯片厚度方向的截面形状为矩形或梯形。
9.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的顶部的宽度为2μm~3μm,底部的宽度为0~1μm。
10.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述第一电极位于所述衬底的第二表面,所述第二电极位于所述外延层上。
11.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,还包括钝化层,位于所述外延层上,所述第一电极和所述第二电极位于所述钝化层上,所述第一电极和所述第二电极分隔设置。
12.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述LED芯片为Micro LED芯片或MiniLED芯片。
13.一种LED芯片的制造方法,其特征在于,包括:
在衬底的第一表面形成外延层,所述外延层包括第一半导体层、有源层和第二半导体层;
形成与所述第一半导体层电连接的第一电极;
形成与所述第二半导体层电连接的第二电极;
在外延层中形成预切割道;以及
在切割道中切割以分离所述LED芯片;
其中,所述预切割道位于所述外延层的侧壁内侧,以阻隔切割对所述外延层产生的亚表面损伤。
14.根据权利要求13所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,在外延层中形成预切割道的方法包括:
在所述外延层上形成光刻胶层;
图案化所述光刻胶层,以形成刻蚀所述预切割道的窗口;
经由图案化的所述光刻胶层刻蚀所述外延层,以形成所述预切割道;
去除所述光刻胶层。
15.根据权利要求14所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,采用物理性刻蚀、化学性刻蚀、物理化学性刻蚀中的一种或几种方法刻蚀所述外延层,以形成所述预切割道。
16.根据权利要求15所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,物理化学性刻蚀方法采用的化学刻蚀气体包括SiCl4、Cl2、BCl3中至少一种,采用的物理溅射气体包括Ar和O2中至少一种。
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





