[发明专利]一种LED芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111620029.6 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN114497109A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 梁兴华;洪灿皇;张乾;谷天赐;范伟宏 申请(专利权)人: 厦门士兰明镓化合物半导体有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L21/78
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 甄丹凤
地址: 361012 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种LED芯片,其特征在于,包括:

衬底;

外延层,位于所述衬底的第一表面,所述外延层包括第一半导体层、有源层和第二半导体层;

第一电极,与所述第一半导体层电连接;

第二电极,与所述第二半导体层电连接;以及

预切割道,位于所述外延层的侧壁内侧,以阻隔切割对所述外延层产生的亚表面损伤。

2.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道为从所述外延层表面向所述衬底方向延伸的环形凹槽。

3.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道至少贯穿所述外延层。

4.根据权利要求3所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道从所述外延层表面向所述衬底方向延伸,底部延伸至所述衬底中。

5.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的深度为15μm~20μm。

6.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道临近所述LED芯片的外侧壁的侧壁与所述LED芯片的外侧壁之间的距离大于等于零。

7.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的中心与所述LED芯片的外侧壁的距离为1μm~3μm。

8.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道沿所述LED芯片厚度方向的截面形状为矩形或梯形。

9.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述预切割道的顶部的宽度为2μm~3μm,底部的宽度为0~1μm。

10.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述第一电极位于所述衬底的第二表面,所述第二电极位于所述外延层上。

11.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,还包括钝化层,位于所述外延层上,所述第一电极和所述第二电极位于所述钝化层上,所述第一电极和所述第二电极分隔设置。

12.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述LED芯片为Micro LED芯片或MiniLED芯片。

13.一种LED芯片的制造方法,其特征在于,包括:

在衬底的第一表面形成外延层,所述外延层包括第一半导体层、有源层和第二半导体层;

形成与所述第一半导体层电连接的第一电极;

形成与所述第二半导体层电连接的第二电极;

在外延层中形成预切割道;以及

在切割道中切割以分离所述LED芯片;

其中,所述预切割道位于所述外延层的侧壁内侧,以阻隔切割对所述外延层产生的亚表面损伤。

14.根据权利要求13所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,在外延层中形成预切割道的方法包括:

在所述外延层上形成光刻胶层;

图案化所述光刻胶层,以形成刻蚀所述预切割道的窗口;

经由图案化的所述光刻胶层刻蚀所述外延层,以形成所述预切割道;

去除所述光刻胶层。

15.根据权利要求14所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,采用物理性刻蚀、化学性刻蚀、物理化学性刻蚀中的一种或几种方法刻蚀所述外延层,以形成所述预切割道。

16.根据权利要求15所述的LED芯片的制造方法,其特征在于,物理化学性刻蚀方法采用的化学刻蚀气体包括SiCl4、Cl2、BCl3中至少一种,采用的物理溅射气体包括Ar和O2中至少一种。

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