[发明专利]评价非晶合金薄带的脆化的方法和非晶合金薄带脆化评价用试验装置

权利要求书

1.一种评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

在非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件，使通过按压所述加压构件而形成了压痕的加压部散布在所述非晶合金薄带中，利用发生破裂的加压部的数量或分布对脆化进行评价。

2.根据权利要求1所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

在所述非晶合金薄带被加压构件按压的面的反面侧配置弹性构件来对所述加压构件进行按压。

3.根据权利要求1或2所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

对所述非晶合金薄带进行磁吸附而固定来对所述加压构件进行按压。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

根据所述加压部表面形状起伏的不连续性来辨别破裂。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

根据所述加压部的光的透射状态来辨别破裂。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法，其中，

根据所述加压构件的压力的减少变化来辨别破裂。

7.一种非晶合金薄带脆化评价用试验装置，具备：

具备配置非晶合金薄带的平面的测定台，以及

在所述非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件，使通过按压所述加压构件而形成了压痕的加压部散布在所述非晶合金薄带中的加压机构。

8.根据权利要求7所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

所述加压机构可在多个所述加压部中的至少一个中形成破裂。

9.根据权利要求7或8所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

所述加压机构相对于所述测定台的平面位于上方，可相对于所述测定台的平面在大体垂直的方向上移动。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

所述加压构件为棒状构件，使所述加压构件相对于所述测定台的平面在大体垂直的方向上移动，用其前端侧对所述非晶合金薄带进行加压。

11.根据权利要求10所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

所述加压构件的前端侧为曲面状或锥状。

12.根据权利要求7至11中任一项所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

具有将所述非晶合金薄带固定于所述测定台的磁吸附机构。

13.根据权利要求7至12中任一项所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

所述加压机构包括负载传感器。

14.根据权利要求13所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置，其中，

可根据基于来自所述负载传感器的电信号得到的压力信息，检测所述非晶合金薄带的破裂。