[发明专利]载波频偏和采样频偏的确定方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111605272.0 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114338325B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 张璞;王培;吴昌强 申请(专利权)人: 深圳市联平半导体有限公司
主分类号: H04L27/26 分类号: H04L27/26;H04L25/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张岳峰
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 载波 采样 确定 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种载波频偏和采样频偏的确定方法,其特征在于,包括:

获取初始载波频偏序列和初始载波频偏值;

根据所述初始载波频偏序列确定采样频偏相对于载波频偏的斜率因子;

根据所述斜率因子确定初始采样频偏值;

至少采用所述斜率因子对所述初始载波频偏值进行补偿,得到补偿后的载波频偏值;

根据所述初始载波频偏序列确定采样频偏相对于载波频偏的斜率因子,包括:

将所述初始载波频偏序列拟合为一次函数;

将所述一次函数的斜率确定为所述斜率因子;

根据所述斜率因子确定初始采样频偏值,包括:

采用第一公式确定所述初始采样频偏值,其中,

slope表示所述斜率因子,sfoOffsetPpm表示所述初始采样频偏值;

获取初始载波频偏序列,包括:

提取频带信号中的每一个子载波的第一OFDM符号和第二OFDM符号,所述第一OFDM符号和所述第二OFDM符号具有相关性;

将所述第一OFDM符号和所述第二OFDM符号做自相关运算,得到相关结果;

根据多个所述相关结果构建所述初始载波频偏序列。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,至少采用所述斜率因子对所述初始载波频偏值进行补偿,得到补偿后的载波频偏值之后,所述方法还包括:

计算所述初始载波频偏值和所述补偿后的载波频偏值的频偏差值;

在所述频偏差值大于预定差值的情况下,采用所述初始采样频偏值对所述初始载波频偏序列中的每一个子载波的相位进行补偿,得到补偿后的载波频偏序列。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,采用所述初始采样频偏值对所述初始载波频偏序列中的每一个子载波的相位进行补偿,得到补偿后的载波频偏序列之后,所述方法还包括:

采用所述补偿后的载波频偏序列确定补偿后的斜率因子;

采用所述补偿后的斜率因子确定补偿后的采样频偏值。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,至少采用所述斜率因子对所述初始载波频偏值进行补偿,得到补偿后的载波频偏值,包括:

获取子载波偏移量和带宽信息;

采用第二公式freFix=freInitial+(NOffset*slope)/(2π*T)确定所述补偿后的载波频偏值,其中,freFix表示所述补偿后的载波频偏值,freInitial表示所述初始载波频偏值,NOffset表示所述子载波偏移量,slope表示所述斜率因子,T表示一个OFDM符号的持续时间。

5.一种载波频偏和采样频偏的确定装置,其特征在于,包括:

获取单元,用于获取初始载波频偏序列和初始载波频偏值;

第一确定单元,用于根据所述初始载波频偏序列确定采样频偏相对于载波频偏的斜率因子;

第二确定单元,用于根据所述斜率因子确定初始采样频偏值;

补偿单元,用于至少采用所述斜率因子对所述初始载波频偏值进行补偿,得到补偿后的载波频偏值;

所述第一确定单元包括处理模块和第一确定模块,所述处理模块用于将所述初始载波频偏序列拟合为一次函数;所述第一确定模块用于将所述一次函数的斜率确定为所述斜率因子;

所述第二确定单元包括第二确定模块,所述第二确定模块用于采用第一公式确定所述初始采样频偏值,其中,slope表示所述斜率因子,sfoOffsetPpm表示所述初始采样频偏值;

所述获取单元包括提取模块、计算模块和构建模块,所述提取模块用于提取频带信号中的每一个子载波的第一OFDM符号和第二OFDM符号,所述第一OFDM符号和所述第二OFDM符号具有相关性;所述计算模块用于将所述第一OFDM符号和所述第二OFDM符号做自相关运算,得到相关结果;所述构建模块用于根据多个所述相关结果构建所述初始载波频偏序列。

6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。

7.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。

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