[发明专利]基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法在审

专利信息
申请号: 202111595976.4 申请日: 2021-12-24
公开(公告)号: CN114240757A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 吴亚楠;李冯帆;杨丹丹;黎鸿;孟森;李丹 申请(专利权)人: 上海乂义实业有限公司
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T5/00;G06T7/10
代理公司: 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙) 31298 代理人: 衣然
地址: 200120 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 光学系统 标定 扫描 图像 分辨 方法
【权利要求书】:

1.基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,包括步骤一,光学系统标定;步骤二,微扫描超分辨处理;其特征在于:

其中在上述步骤一中,包括以下步骤:

1)准备带有刃边的标靶图像,在稳定光源下,使用搭载微扫描平台的光学系统采集一张图像;

2)采用倾斜刃边法,人工选取一个斜边区域并进行计算,获得系统的线扩散函数,并根据高斯型点扩散函数假设,进一步求得点扩散函数Hk

3)将取得的整张图像进行分割,获得尺寸合适的图像块;

4)采用盲去模糊算法,计算每个图像块的点扩散函数;

5)对所有的点扩散函数遍历,选取图像上对称的两个图像块所对应的点扩散函数,求最小均方误差,获得每个图像块点扩散函数Hi,k

其中在上述步骤二中,包括以下步骤:

1)使用上述标定过的搭载微扫描平台的光学系统采集多帧亚像素位移信息的图像序列Yk

2)读取多帧图像序列Yk,并分成图像块Yi,k,读取成像系统标定的多个点扩散函数Hi,k,然后对图像进行分块,用光流法分别求出和参考帧对应的每个图像块的亚像素精度位移Fi,k,根据上述参数构建每个图像块的系统矩阵Wi,k,将每个图像块的系统矩阵合并为一个总系统矩阵Wk,采用非均匀性插值方法,根据微扫的模式来多帧插值成一帧超分图像

3)构建降质模型,并逆向求解超分辨图像将超分辨图像与总系统矩阵Wk进行正向降质后,获得一组低分图像的估计Y’k,然后构建损失函数loss,采用坐标下降法,最小化损失函数,求出X。

2.根据权利要求1所述的基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,其特征在于:所述步骤一4)中,将倾斜刃边法计算得到的整体点扩散函数,作为初始值传递给盲去模糊算法,计算每个图像块的点扩散函数。

3.根据权利要求1所述的基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,其特征在于:所述步骤一5)中,将此均方误差和提前设定的阈值对比,如果大于阈值则舍弃,并重新设定此值为刃边法设定的初始值,再将调整后的点扩散函数传递给超分辨。

4.根据权利要求1所述的基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,其特征在于:所述步骤二2)中,Wi,k的计算公式如下

Wi,k=Di,kHi,kFi,k

其中,Di,k为下采样算子。

5.根据权利要求1所述的基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,其特征在于:所述步骤二2)中,Yk的计算公式如下

Yk=WkX+Vk,k=1,2…,k。

6.根据权利要求1所述的基于光学系统标定微扫描图像超分辨方法,其特征在于:所述步骤二3)中,损失函数loss的计算公式如下

loss=|Yk-WkX|。

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