[发明专利]直接RNA测序的多组学分析方法、系统、设备及存储介质在审
| 申请号: | 202111595287.3 | 申请日: | 2021-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN114464254A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
| 发明(设计)人: | 杨学敏;张德营 | 申请(专利权)人: | 广州表观生物科技有限公司 |
| 主分类号: | G16B20/30 | 分类号: | G16B20/30;G16B30/10;G16B40/00 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 宋南 |
| 地址: | 510700 广东省广州市黄埔区科*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 直接 rna 多组学 分析 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
本申请实施例提供一种直接RNA测序的多组学分析方法、系统、设备及存储介质,涉及生物信息处理技术领域。该方法包括:获取直接RNA测序的测序数据;将测序数据与参考基因组比对,获得测序比对数据;根据测序比对数据进行全长转录本鉴定,获得全长转录本序列数据;基于全长转录本序列数据对测序数据进行转录本定量处理,获得转录本定量数据;根据甲基化修饰预测模型处理测序数据,获得甲基化修饰数据;根据新生mRNA预测模型处理全长转录本序列数据,获得新生mRNA数据;根据全长转录本序列数据、转录本定量数据、甲基化修饰数据和新生mRNA数据进行关联性分析,获得直接RNA测序多维度信息。该方法可以实现测序精度的技术效果。
技术领域
本申请涉及生物信息处理技术领域,具体而言,涉及一种直接RNA测序的多组学分析方法、系统、设备及存储介质。
背景技术
目前,第三代测序技术中,纳米孔测序技术能够直接对RNA分子测序,又称为直接RNA测序技术;由于直接RNA测序技术测序得到的测序结果包含RNA分子多个维度信息,但是目前没有一种能够挖掘该直接RNA测序结果的方法,因此实现对直接RNA测序结果的多维度信息获取具有重要的现实意义。
现有技术中,对于第三代测序技术的RNA分子数据分析过程中,主要存在以下几种技术:一是结合二代测序技术进行全长转录本定量分析,该分析一般采用第二代测序技术所得RNA序列结合三代测序技术测得RNA序列进行定量分析,缺点是在定量分析中还需要对样本进行一次第二代测序,对样品量要求多,价格昂贵;二是全长转录本鉴定分析,该分析采用定性方式只鉴定第三代测序结果中RNA分子的全长结构序列,缺点是不能够有效利用RNA直接测序的其他维度数据;三是RNA分子的甲基化修饰鉴定,该分析采用建立模型对RNA分子甲基化位点进行预测,缺点是预测准确性有待提高,且不能判定甲基化位点位于原始RNA分子的那个位子。国内外对直接RNA测序技术的分析方案较少,都只分析了RNA分子的一到两个维度信息,且第三代测序技术价格昂贵,并没有充分利用直接RNA测序结果。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种直接RNA测序的多组学分析方法、系统、设备及存储介质,可以实现提高测序精度的技术效果。
第一方面,本申请实施例提供了一种直接RNA测序的多组学分析方法,包括:
获取直接RNA测序的测序数据;
将所述测序数据与参考基因组比对,获得测序比对数据;
根据所述测序比对数据进行全长转录本鉴定,获得全长转录本序列数据;
基于所述全长转录本序列数据对所述测序数据进行转录本定量处理,获得转录本定量数据;
根据甲基化修饰预测模型处理所述测序数据,获得甲基化修饰数据;
根据新生mRNA预测模型处理所述全长转录本序列数据,获得新生mRNA数据;
根据所述全长转录本序列数据、所述转录本定量数据、所述甲基化修饰数据和所述新生mRNA数据进行关联性分析,获得直接RNA测序多维度信息。
在上述实现过程中,该直接RNA测序的多组学分析方法通过对直接RNA测序的测序数据及测序比对数据进行处理,依次获得全长转录本序列数据、转录本定量数据、甲基化修饰数据和新生mRNA数据,能够对直接RNA测序的RNA序列进行多维度数据分析,一个测序数据分析4个维度信息,从而实现多组学的数据整合;因此,该直接RNA测序的多组学分析方法通过一次实验即可同时获得多套数据方案,减少了多次生物学实验带来的实验误差和批次效应,实现提高测序精度的技术效果。
进一步地,所述根据所述测序比对数据进行全长转录本鉴定,获得全长转录本序列数据的步骤,包括:
对所述测序比对数据进行矫正,获得校正后的测序比对数据;
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