[发明专利]一种积木式模块化检查被测设备内部导线连接关系的测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 202111589087.7 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN114264980A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 何海;郁嵩;张国龙;刘东;张丽琳;冯玥;高俊姣 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十四研究所
主分类号: G01R31/55 分类号: G01R31/55;G01R31/58;G01R31/66
代理公司: 北京铸成博信知识产权代理事务所(普通合伙) 16016 代理人: 贺龙萍
地址: 210039 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 积木 模块化 检查 设备 内部 导线 连接 关系 测试 方法 系统
【说明书】:

发明采用搭积木的方式构建测试系统,模块化设计,检查被测设备内部导线连接关系。测试模块采用相同的硬件系统和软件设计,当对于不同的被测设备进行连线测试时,被测试设备的测试接口、测试量有巨大变化时,测试系统只需更换相应的适配器,增添或减少测试模块即可适应不同时测试需求,而且对被测设备分布范围没有特别要求。系统测试对被测设备中特殊网络,如“电”、“地”网进行测试也可以自动测试。本发明采用测试模块搭积木式构建ZigBee星型无线网测试系统对被测设备的导线连接关系进行测试,具有极强的测试扩充能力,可对被测设备机柜内部各类导线连接关系快速准确的测试,不需要额外的测试设施。

技术领域

本发明属于测试技术领域,具体涉及一种导线连接关系测试系统和方法。

背景技术

在许多场合下对设备中导线连接关系的检查是一项重要工作。大量的查线工作都是人工开展,存在工作量大、效率低、受环境空间约束大的问题。特别是维修旧产品时,如原有资料不全或不准确,则难以查清各种隐蔽的接插件端点间导线连接关系,人工检查设备内多余连线、短路导线尤为困难。

采用自动检查导线连接关系的测试设备能够较好的解决以上问题。发表于《现在雷达》2012年第08期的《基于CAN总线智能查线仪的设计与实现》、发表于《工业控制计算机》2015年07期的《查线记录仪的设计》,和安徽大学 2014年 09期硕士论文《基于DSP的查线器研究与设计》中公开了若干种查线测试方法。

但此类自动查线设备一般采用传统机柜形式出现,由测试探头、测试主机、测试计算机构成。其机柜、测试探头组成是固定的,也就是说一旦设计成型后,其最大测试能力一般就确定了,如一台设备最大可测试5000个导线连接点相互连接的情况。如果被测设备需测试点超过5000个,此测试仪就难以完成测试工作。如果被测设备分布区域较大,超过常见机柜布局时,普通自动查线设备也难以测试。查线测试仪常常需要很大的机柜结构,设备量较大,携带极不便捷。其二传统查线测试仪很多是通过激励信号驱动测试探头,其余探头检测激励信号的方法检查被测设备的导线连接关系的,如果检查到大量被测端点连接在一起的特殊网络,如“电”、“地” 网络时,由于无法驱动数量庞大的被测端点电信号,往往需要分层处理。因此具备大容量测试能力、测试性能高的查线仪表设备往往价格昂贵,体积庞大,极大的限制了自动查线设备的使用范围及效率。

目前模块化是仪表一种发展方向,无线组网技术又为测试仪表构造模块化提供一种新的解决方案。采用无需增添机柜结构,只需添加基本模块的搭积木式自由增减方式就可增加或削减仪表组成对控制成本、提高效益有相当大的益处。无线组网技术是模块仪表设备的重要发展方向。ZigBee 组网技术是一种用于对数据传输速率要求不高,低功耗的短距离无线通信技术,成本低、价格便宜、组网方便、网络容量大。其核心芯片性价比高,只需较少的外围器件就可以组成ZigBee无线组网收发系统。组网协议编程可使用集成开发环境用的工具开发。ZigBee 网络的拓扑结构可以分为星型网、树状网和网状网。市面上有许多货架产品组网模块,价格便宜,支持ZigBee无线组网,留有二次开发基础,可以用于一般星型网络开发应用。组网模块可安装在测试组件PCB板预留位置上。网络中具有一个节点ZigBee 设备为全功能设备(FFD)起到协调器功能,其余节点为简化功能设备(RFD),所有节点均组网连接到协调器,其最大的优点是结构简单,组网方便,功耗低。组网技术的发展为模块化查线系统提供了坚实的技术支持。但目前尚未有无线组网、模块化测试、搭积木方式自动查线的测试方法和相关系统。

发明内容

本发明目的在于实现一种积木式模块化检查被测设备内部导线连接关系的测试方法和系统。

本发明克服了现有技术中的缺点,提供了新型的一种积木式模块化检查被测设备内部导线连接关系的测试方法和系统。

1、解决传统查线测试方法中对“电”、“地”网这类特殊网络的测试难点;

2、解决传统查线测试方法设备量大,扩充难度大,不具备模块化问题;

3、解决一些特殊被测设备如设备分布范围大,测试设备难以测试问题;

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