[发明专利]PID控制参数整定方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种PID控制参数整定方法，其特征在于，包括：

获取按目标增益对设备进行PID控制时所采集的多个目标采样温度，所述设备当前被设定的温度为目标温度；

根据所述多个目标采样温度，进行振荡曲线拟合，得到目标振荡拟合曲线，所述目标振荡拟合曲线用于反映所述多个目标采样温度的振荡规律；

在所述目标振荡拟合曲线的偏距在预设偏差范围内的情况下，根据所述目标增益和所述目标振荡拟合曲线，确定所述目标温度对应的PID控制参数，所述目标振荡拟合曲线的偏距用于指示所述多个目标采样温度的波动情况，其中，所述偏距用于指示所述目标振荡拟合曲线的偏移程度，所述偏移程度用于反映以所述目标增益进行PID控制时的PID控制是否精准稳定。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述偏距不在所述预设偏差范围内的情况下，根据所述偏距，调整所述目标增益，并返回执行所述获取按目标增益对设备进行PID控制时所采集的多个目标采样温度的步骤，直至所述偏距在所述预设偏差范围内或无法继续调整所述目标增益。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在无法继续调整所述目标增益的情况下，根据最接近于所述预设偏差范围的偏距对应的目标增益，和最接近于所述预设偏差范围的偏距对应的目标振荡拟合曲线，确定所述目标温度对应的PID控制参数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述根据所述多个目标采样温度，进行振荡曲线拟合，得到目标振荡拟合曲线，包括：

对所述多个目标采样温度进行振荡曲线拟合，得到所述目标振荡拟合曲线；

所述预设偏差范围为[T-a，T+a]，a为预设常数，T为所述目标温度；

所述根据所述偏距，调整所述目标增益，包括：

若所述偏距小于T-a，则增大所述目标增益；

若所述偏距大于T+a，则减小所述目标增益。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述根据所述多个目标采样温度，进行振荡曲线拟合，得到目标振荡拟合曲线，包括：

计算所述多个目标采样温度与所述目标温度之间的温度差；

对所述温度差进行振荡曲线拟合，得到所述目标振荡拟合曲线；

所述预设偏差范围为[-a，a]，a为预设常数；

所述根据所述偏距，调整所述目标增益，包括：

若所述偏距小于-a，则增大所述目标增益；

若所述偏距大于+a，则减小所述目标增益。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，

所述增大所述目标增益包括：

以预设变化增益增大所述目标增益；或者以二分法在所述目标增益与最大增益之间调整所述目标增益；

所述减小所述目标增益包括：

以预设变化增益减小所述目标增益；或者以二分法在所述目标增益与最小增益之间调整所述目标增益。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述获取按目标增益对设备进行PID控制时所采集的多个目标采样温度之前，还包括：

获取对设备设定的至少两个设定温度，所述目标温度为所述至少两个设定温度中的任意一个设定温度；

所述根据所述目标增益和所述目标振荡拟合曲线，确定所述目标温度对应的PID控制参数之后，还包括：

根据用于确定所述目标温度的PID控制参数的目标增益，确定所述目标温度的下一设定温度对应的目标增益，并将所述下一设定温度设定为所述设备的目标温度，执行所述获取按目标增益对设备进行PID控制时所采集的多个目标采样温度的步骤，直至确定完所有的设定温度的PID控制参数。