[发明专利]相控阵雷达幅相校准方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

响应于校准指令，利用无源辐射单元采集所有天线阵元的实际幅相参数；

根据所述实际幅相参数、预设的理论幅相参数和预设的误差公式，计算得到幅相误差；

根据所述幅相误差，对每一个与所述天线阵元连接的收发单元进行幅度补偿和相位补偿；

其中，所述幅相误差包括幅度误差和相位误差，所述根据所述实际幅相参数、预设的理论幅相参数和预设的误差公式，计算得到幅相误差包括：

将一个天线阵元设为标准阵元，计算得到其他所述天线阵元与所述标准阵元的相位误差。

2.根据权利要求1所述的相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，所述实际幅相参数包括第一幅相发射参数，所述校准指令包括发射指令，所述响应于校准指令，利用无源辐射单元采集所有天线阵元的实际幅相参数，包括以下步骤：

响应于所述发射指令，控制所有所述天线阵元依次发射第一测试信号；

当所有所述天线阵元依次发射所述第一测试信号，则控制所述无源辐射单元依次接收所有所述第一测试信号；

根据所述无源辐射单元接收的每一个所述第一测试信号，获取每一个所述天线阵元的所述第一幅相发射参数。

3.根据权利要求2所述的相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，所述理论幅相参数包括第二幅相发射参数，所述幅相误差包括幅相发射误差。

4.根据权利要求1所述的相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，所述实际幅相参数包括第一幅相接收参数，所述校准指令包括接收指令，所述响应于校准指令，利用无源辐射单元采集所有天线阵元的实际幅相参数，包括以下步骤：

响应于所述接收指令，控制所述无源辐射单元依次发射N个第二测试信号，其中，N大于或等于所述天线阵元的数量；

当所述无源辐射单元依次发射N个所述第二测试信号，则控制所有所述天线阵元依次接收所述第二测试信号；

根据每一个所述天线阵元接收的所述第二测试信号，获取每一个所述天线阵元的所述第一幅相接收参数。

5.根据权利要求4所述的相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，所述理论幅相参数包括第二幅相接收参数，所述幅相误差包括幅相接收误差。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的相控阵雷达幅相校准方法，其特征在于，所述收发单元包括衰减器和移相器，所述根据所述幅相误差，对每一个与所述天线阵元连接的收发单元进行幅度补偿和相位补偿，包括以下步骤：

根据所述幅相误差，对所述衰减器进行幅度补偿，对所述移相器进行相位补偿。

7.一种相控阵雷达幅相校准装置，其特征在于，包括：

配置模块，所述配置模块用于存储预设的理论幅相参数和预设的误差公式；

采集模块，所述采集模块用于响应校准指令，利用无源辐射单元采集所有天线阵元的实际幅相参数；

计算模块，所述计算模块用于根据所述实际幅相参数、所述理论幅相参数和所述误差公式，计算得到幅相误差；

补偿模块，所述补偿模块用于根据所述幅相误差，对每一个与所述天线阵元连接的收发单元进行幅度补偿和相位补偿。

8.根据权利要求7所述的相控阵雷达幅相校准装置，其特征在于，所述实际幅相参数包括第一幅相发射参数，所述采集模块包括：

第一信号发射单元，所述第一信号发射单元用于响应于发射指令，控制所有所述天线阵元依次发射第一测试信号；

第一信号接收单元，所述第一信号接收单元用于在所有所述天线阵元依次发射所述第一测试信号的情况下，控制所述无源辐射单元依次接收所有所述第一测试信号；

发射参数采集单元，所述发射参数采集单元用于根据所述无源辐射单元接收的每一个所述第一测试信号，获取每一个所述天线阵元的所述第一幅相发射参数。