[发明专利]集成电路芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种集成电路芯片验证方法，包括：

获取第一参数和第二参数，所述第一参数为要求的浮点数取值上限，所述第二参数为要求的浮点数取值下限；

分别获取所述第一参数的第二符号位、第二指数位以及第二小数位，并分别获取所述第二参数的第三符号位、第三指数位以及第三小数位，根据获取到的所述第二符号位、所述第二指数位、所述第二小数位、所述第三符号位、所述第三指数位以及所述第三小数位，生成随机化的浮点数的第一符号位、第一指数位以及第一小数位；其中，若所述第二符号位和所述第三符号位均等于0，则按照第一生成方式生成所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位，包括：若所述第二指数位等于所述第三指数位，且所述第二小数位大于或等于所述第三小数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第二指数位或所述第三指数位作为所述第一指数位，将位于[所述第三小数位:所述第二小数位]范围内的随机值作为所述第一小数位；

根据所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位生成所述浮点数；

利用所述浮点数进行集成电路芯片验证。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述按照第一生成方式生成所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位还包括：

若所述第二指数位大于所述第三指数位，则生成位于[所述第三指数位:所述第二指数位]范围内的随机值，作为第一中间变量；

若所述第一中间变量等于所述第三指数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第三指数位作为所述第一指数位，将位于[所述第三小数位:第一预定值]范围内的随机值作为所述第一小数位；

若所述第一中间变量等于所述第二指数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第二指数位作为所述第一指数位，将位于[第二预定值:所述第二小数位]范围内的随机值作为所述第一小数位；

若所述第一中间变量既不等于所述第三指数位，也不等于所述第二指数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第一中间变量作为所述第一指数位，将位于[所述第二预定值:所述第一预定值]范围内的随机值作为所述第一小数位。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

若所述第二符号位等于0，且所述第三符号位等于1，则按照第二生成方式生成所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位，包括：

生成位于[0:1]范围内的随机值，作为第二中间变量；

若所述第二中间变量等于0，则生成位于[0:所述第二指数位]范围内的随机值，作为第三中间变量；

若所述第三中间变量等于所述第二指数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第二指数位作为所述第一指数位，将位于[第二预定值:所述第二小数位]范围内的随机值作为所述第一小数位；

若所述第三中间变量不等于所述第二指数位，则将0作为所述第一符号位，将所述第三中间变量作为所述第一指数位，将位于[所述第二预定值:第一预定值]范围内的随机值作为所述第一小数位。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述按照第二生成方式生成所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位还包括：

若所述第二中间变量不等于0，则生成位于[0:所述第三指数位]范围内的随机值，作为第四中间变量；

若所述第四中间变量等于所述第三指数位，则将1作为所述第一符号位，将所述第三指数位作为所述第一指数位，将位于[第二预定值:所述第三小数位]范围内的随机值作为所述第一小数位；

若所述第四中间变量不等于所述第三指数位，则将1作为所述第一符号位，将所述第四中间变量作为所述第一指数位，将位于[所述第二预定值:所述第一预定值]范围内的随机值作为所述第一小数位。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括：

若所述第二符号位等于1，且所述第三符号位等于1，则按照第三生成方式生成所述第一符号位、所述第一指数位以及所述第一小数位，包括：

若所述第二指数位等于所述第三指数位，且所述第二小数位小于或等于所述第三小数位，则将1作为所述第一符号位，将所述第二指数位或所述第三指数位作为所述第一指数位，将位于[所述第二小数位:所述第三小数位]范围内的随机值作为所述第一小数位。