[发明专利]一种通道式安检设备及其检查方法

权利要求书

1.一种通道式安检设备，包括机壳、检测通道和传送装置，所述检测通道贯穿所述机壳的前后端，所述传送装置设置于所述机壳的底端并穿过所述检测通道，用于将被检物体传送至检测区域，其特征在于，所述通道式安检设备还包括：

辐射成像检测装置，所述辐射成像检测装置包括射线发生器、前置准直器、背散射线阵列探测器和透射线阵列探测器，其中，所述前置准直器位于所述射线发生器的前端，所述射线发生器产生的射线束穿过所述前置准直器的前置狭缝，所述背散射线阵列探测器与所述射线发生器位于同侧，所述透射线阵列探测器与所述射线发生器对侧设置；

痕量物质检测装置，所述痕量物质检测装置包括样品采集单元和样品检测单元；其中，所述样品采集单元包括采样探头、储样仓和采样泵，所述采样探头设置有多个，多个所述采样探头呈分布式排布，且分别通过采样管与第一采样管路连接，所述第一采样管路的输出端与所述储样仓连接，所述储样仓通过第二采样管路与所述采样泵连接；所述样品检测单元的输入端通过进样管路与所述储样仓连接，所述样品检测单元用于对样品进行检测；

PC端，所述PC端设置有图像采集卡，所述图像采集卡分别与所述透射线阵列探测器、背散射线阵列探测器通讯连接，用于采集并处理所述透射线阵列探测器、背散射线阵列探测器的图像信息；所述PC端还与所述样品检测单元通讯连接，所述样品检测单元的检测数据传输至所述PC端。

2.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：所述背散射线阵列探测器为I形背散射线阵列探测器，所述I形背散射线阵列探测器为多个背散射探测单元呈阵列式排布而成；

所述背散射线阵列探测器的前端设置有后准直器，所述后准直器用于限制每个所述背散射探测单元的接收角度。

3.根据权利要求2所述的通道式安检设备，其特征在于：所述背散射探测单元包括依次设置的闪烁体和光电转换器件，所述光电转换器的输出端连接有放大电路和ADC转换电路。

4.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：所述透射线阵列探测器为倒L形透射线阵列探测器，所述倒L形透射线阵列探测器包括顶部和侧壁部，所述顶部位于所述检测通道的顶端，所述侧壁部纵向设置于所述检测通道的一侧。

5.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：多个所述采样探头均匀分布于所述检测通道的顶端和两侧，所述采样探头用于采集被检物体泄漏到所述检测通道中的气体样品；

所述采样探头的前端设置有第一滤网，所述第一过滤网用于阻挡粉尘进入采样管路而造成污染。

6.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：所述进样管路上设置有进样电磁阀，所述进样电磁阀用于导通和切断所述进样管路；

所述进样电磁阀为二通电磁阀或带有定量环的六通阀。

7.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：样品检测单元为四极杆质谱仪，四极杆质谱仪包括依次设置的真空泵组、电离区、聚焦透镜、四极杆质量分析器和双检测器。

8.根据权利要求7所述的通道式安检设备，其特征在于：所述样品检测单元还包括校准装置，所述校准装置通过校准管路与所述四极杆质谱仪连接；

所述校准管路上设置有校准电磁阀，所述校准电磁阀用于导通和切断所述校准管路。

9.根据权利要求1所述的通道式安检设备，其特征在于：所述痕量物质检测装置还包括反清洁单元，所述反清洁单元包括反清洁气路和过滤器，所述过滤器通过第一电磁阀与所述第二采样管路连接，所述反清洁气路的一端通过第二电磁阀与所述采样泵的输出端连接，所述反清洁气路的另一端与所述储样仓连通；

所述第一电磁阀和第二电磁阀均为二位三通阀。

10.一种通道式安检设备的检查方法，其特征在于：

将被检物体放置于传送装置上，并传送至检测区域；

采用如权利要求1～9中任一所述的通道式安检设备对被检物体进行检查。