[发明专利]一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法有效
| 申请号: | 202111542604.5 | 申请日: | 2021-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN114384028B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
| 发明(设计)人: | 宁录胜;鲍舒婷;张航 | 申请(专利权)人: | 安徽皖仪科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司: | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人: | 何梓秋 |
| 地址: | 230000 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 连续 流动 分析 漂移 校正 方法 | ||
1.一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:基线漂移校正
根据目标样本前一个和后一个清洗样的吸光度基线校正结果,将目标样本的吸光度进行更新;
S2:峰漂移校正
利用目标样本前后的漂移样的吸光度峰漂移校正公式,对目标样品的吸光度进行更新。
2.根据权利要求1所述的一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法,其特征在于:所述步骤S1具体包括以下步骤:
S11:获取目标样品n的前一个清洗样的吸光度和后一个清洗样的吸光度,以及目标样品n的吸光度;
S12:记n为目标样品的编号,U(n)为目标样品n修正前的吸光度,U’(n)为目标样品n经过基线漂移校正后的吸光度;a为目标样品n的前一个清洗样编号,W(a)为清洗样编号为a的吸光度;b为目标样品n的后一个清洗样编号,W(b)为清洗样编号为b的吸光度,按照下述公式对目标样本n的吸光度进行基线漂移校正:
S13:若目标样品n前后只有一个清洗样,则不对该目标样品n的吸光度进行基线校正,即U′(n)=U(n)。
3.根据权利要求2所述的一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法,其特征在于:在所述步骤S11中,目标样品n的前一个清洗样的吸光度和后一个清洗样的吸光度,以及目标样品n的吸光度均通过连续流动分析仪测量得到。
4.根据权利要求2或3所述的一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法,其特征在于:所述步骤S2具体包括以下步骤:
S21:获取目标样品n经过基线漂移校正后的吸光度、前一个漂移样和后一个漂移样经过基线漂移校正后的吸光度;
S22:记n为目标样品的编号,U’(n)为目标样品n经过基线漂移校正后的吸光度,U”(n)为目标样品n经过基线漂移校正和峰漂移校正后的吸光度;a为目标样品n的前一个漂移样编号,D(a)为漂移样编号为a经过基线漂移校正后的吸光度;b为目标样品n的后一个漂移样编号,D(b)为漂移样编号为b经过基线漂移校正后的吸光度,D(1)为第一个漂移样经过基线漂移校正后的吸光度,采用下述公式对目标样本n的吸光度进行峰漂移校正:
S23:若目标样品n前后只有一个漂移样,则不对该目标样品的吸光度进行峰漂移校正,即U″(n)=U(n)。
5.根据权利要求4所述的一种用于连续流动分析仪的峰漂移校正方法,其特征在于:在所述步骤S21中,目标样品n经过基线漂移校正后的吸光度、前一个漂移样和后一个漂移样经过基线漂移校正后的吸光度即经过步骤S1中基线漂移校正后获得。
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