[发明专利]图像处理设备、方法和程序在审

专利信息
申请号: 202111541158.6 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN114240751A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 胡本川;赵博 申请(专利权)人: 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司;北京奕斯伟计算技术有限公司
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 侯菲菲;刘铁生
地址: 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 设备 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种图像处理设备,其特征在于,所述设备包括:

数据处理部,用于获取原始图像,并采用第一子倍率对所述原始图像进行下采样,得到过渡图像,以及采用第二子倍率对所述过渡图像进行下采样,得到目标图像;

其中,所述第一子倍率和所述第二子倍率由所述原始图像的下采样倍率拆分得到,所述第一子倍率与所述第二子倍率的乘积等于所述下采样倍率。

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述第一子倍率的倒数以及所述第二子倍率的倒数均不为整数;和/或,所述第一子倍率大于所述第二子倍率。

3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述数据处理部包括:

像素块计算部,用于根据所述第一子倍率确定所述原始图像中用于进行下采样的第一像素块横/纵像素个数,所述第一像素块横/纵像素个数大于或等于所述第一子倍率的倒数;

图像采样部,用于基于所述第一子倍率和所述第一像素块横/纵像素个数对所述原始图像进行下采样,得到所述过渡图像。

4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于,所述图像采样部包括:

位置计算部,用于根据所述过渡图像中各过渡像素点的位置、所述第一子倍率、所述第一像素块横/纵像素个数,确定所述原始图像中用于进行下采样的所述各过渡像素点对应的原始像素块在所述原始图像中的位置;

像素计算部,用于基于所述各过渡像素点对应的原始像素块在所述原始图像中的位置和所述第一像素块横/纵像素个数,计算所述过渡图像中各过渡像素点的像素值,得到所述过渡图像。

5.根据权利要求3所述的设备,其特征在于,所述图像采样部包括:

权重确定部,用于确定所述第一像素块中各像素点对应的权重;

像素块确定部,用于根据所述过渡图像中各过渡像素点对应的原始像素块在所述原始图像中的位置和所述第一像素块横/纵像素个数确定所述原始图像中各原始像素块;

加权部,用于针对每个原始像素块,将其中各像素点的像素值与所述第一像素块中各像素点对应的权重对应相乘,并将对应相乘后的结果相加,得到所述过渡图像中各过渡像素点的像素值,得到所述过渡图像。

6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述权重确定部包括:

索引确定部,用于根据所述过渡图像中各过渡像素点的位置、所述第一子倍率、第一预设表的长度,确定所述各过渡像素点在第一预设表中的索引,所述第一预设表中存储有各索引与相应的权重的对应关系;

权重获取部,用于根据所述各过渡像素点在第一预设表中的索引从所述第一预设表中确定出所述第一像素块中各像素点对应的权重。

7.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述过渡图像中各过渡像素点的位置包括横坐标和纵坐标,所述第一像素块中各像素点对应的权重包括横向权重和纵向权重;

所述加权部,具体用于针对每个原始像素块,将其中各像素点的像素值、所述第一像素块中各像素点对应的横向权重、纵向权重对应相乘,并将对应相乘后的结果相加,得到所述过渡图像中各过渡像素点的像素值。

8.一种由图像处理设备执行的图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:

获取原始图像,并采用第一子倍率对所述原始图像进行下采样,得到过渡图像,以及采用第二子倍率对所述过渡图像进行下采样,得到目标图像;

其中,所述第一子倍率和所述第二子倍率由所述原始图像的下采样倍率拆分得到,所述第一子倍率与所述第二子倍率的乘积等于所述下采样倍率。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述第一子倍率的倒数以及所述第二子倍率的倒数均不为整数;和/或,所述第一子倍率大于所述第二子倍率。

10.一种使用图像处理设备执行图像处理的程序,其特征在于,所述图像处理设备包括数据处理部,所述程序使所述数据处理部执行:

获取原始图像,并采用第一子倍率对所述原始图像进行下采样,得到过渡图像,以及采用第二子倍率对所述过渡图像进行下采样,得到目标图像;

其中,所述第一子倍率和所述第二子倍率由所述原始图像的下采样倍率拆分得到,所述第一子倍率与所述第二子倍率的乘积等于所述下采样倍率。

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