[发明专利]基于空谱深度协同的高光谱异常检测方法有效
| 申请号: | 202111539339.5 | 申请日: | 2021-12-06 |
| 公开(公告)号: | CN114445720B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
| 发明(设计)人: | 谢卫莹;马纪涛;蒋恺;雷杰;李云松;卢天恩 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | G06V20/13 | 分类号: | G06V20/13;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/08;G06N3/048 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 陈宏社;王品华 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 深度 协同 光谱 异常 检测 方法 | ||
1.一种基于空谱深度协同的高光谱异常检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)对输入的高光谱图像进行预处理:
对高光谱图像进行归一化操作,得到归一化后的高光谱二维图像同时通过二维卷积自编码网络对高光谱图像X进行特征提取,并对所提取的空间特征进行归一化操作,得到归一化后的空间特征其中,M、N和B分别表示X的行像素数、列像素数和光谱波段数,表示实数集,i=1,2,...,L,L=M×N,D表示空间特征的波段数,xi表示第i个像素,xi′表示xi对应的归一化结果,yi表示xi对应的空间特征,yi′表示yi对应的归一化后的空间特征;
(2)构建基于空谱深度协同的高光谱异常检测模型O:
(2a)构建基于空谱深度协同的高光谱异常检测模型O的结构:
构建包括级联的增广自编码器、空谱深度协同的特征融合器和估计网络Est(·)的高光谱异常检测模型O,其中:
增广自编码器包括并行排布的光谱自编码器和空间特征自编码器;光谱自编码器包括参数为θen1的编码器En(·;θen1)和参数为θde1的解码器Dn(·;θde1),空间特征自编码器包括参数为θen2的编码器En(·;θen2)和参数为θde2的解码器Dn(·;θde2),En(·;θen1)、Dn(·;θde1)、En(·;θen2)和Dn(·;θde2)采用包含多个通道数不同的全连接层和tanh激活函数的神经网络;
估计网络采用包含多个通道数不同的全连接层和tanh激活函数、参数为θest的神经网络;
(2b)定义高光谱异常检测模型O的损失函数Loss:
其中,λ1、λ2和λ3表示超参数,zi表示xi对应的增广低维表征,E(zi)表示zi的负对数似然值,表示xi′对应的重构矩阵,表示y′i对应的重构矩阵,ri表示zi对应的混合概率,K表示高斯分布混合分量数,和分别表示第k个高斯混合分量的混合权重、均值和协方差矩阵,k=1,2,...,K,K≥2,rik表示ri的第k列的元素,J表示协方差矩阵的行数,表示的第j行第j列的元素,||·||表示1范数,|·|表示求行列式运算,(·)T表示转置运算,(·)-1表示求逆运算;
(3)对高光谱异常检测模型O进行迭代训练:
(3a)初始化迭代次数为t,最大迭代次数为T,T≥20,当前高光谱异常检测模型为Ot,并令t=0,Ot=O;
(3b)将归一化后的高光谱二维图像X′和空间特征Y'作为高光谱异常检测模型Ot的输入进行前向传播:
(3b1)增广自编码器中的光谱自编码器、空间特征自编码器分别对X′、Y'进行降维,得到X′对应的低维表征和重构矩阵以及Y'对应的低维表征和重构矩阵其中,cxi表示xi′对应的低维表征,cyi表示y′i对应的低维表征,H表示低维表征的波段数;
(3b2)空谱深度协同的特征融合器对X′对应的低维表征Cx和重构矩阵以及Y'对应的低维表征Cy和重构矩阵进行特征融合,得到增广低维表征zi的表达式为:
其中,α表示超参数,[·]表示按照波段维度堆叠,MSE(·)表示均方误差,OPD(·)表示正交投影散度;
(3b3)估计网络对增广低维表征Z进行密度估计,得到Z对应的混合概率
(3c)采用损失函数Loss,并通过增广低维表征Z和混合概率R计算当前高光谱异常检测模型Ot的损失值,再采用BP算法,通过该损失值计算Ot的梯度信息grad,然后采用学习率为1e-4的Adma优化器,通过梯度信息grad对参数θen1、θde1、θen2、θde2和θest进行更新;
(3d)判断t=T是否成立,若是,得到训练好的高光谱异常检测模型O*,否则,令t=t+1,并执行步骤(3b);
(4)获取高光谱图像的异常检测结果:
计算每个增广低维表征zi对应的负对数似然值E(zi),并将E(zi)作为Z对应的高光谱图像X中第i个像素xi的异常程度,得到X的异常检测结果
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111539339.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





