[发明专利]参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质，应用于数据分析技术领域，其中，方法包括：获取待分析参数和待分析平台信息；根据预先构建的知识图谱，确定待分析参数与待分析平台信息形成的目标知识关系链；知识图谱为包含参数与平台信息对应关系的知识图谱，目标知识关系链指示待分析参数与待分析平台信息在知识图谱中的关系；根据知识图谱，获取目标知识关系链中的每个相邻实体间的关联关系；根据每个关联关系，确定待分析参数对待分析平台的影响程度。以解决现有技术中，根据经验值进行设置来分析影响因素对推荐平台的影响，但是得到的分析结果主观因素较强，准确性不高的问题。

技术领域

本申请涉及数据分析技术领域，尤其涉及一种参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

目前，在每个行业中的推荐平台中，寻找其影响因素，然后通过该影响因素，来分析对推荐平台的影响，以便于对推荐平台精准的投放。

相关技术中，在分析影响因素对推荐平台的影响时，往往由相关人员根据经验值进行设置，但是得到的结果主观因素较强，结果的准确性不高。

发明内容

本申请提供了一种参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质，用以解决现有技术中，根据经验值进行设置来分析影响因素对推荐平台的影响，但是得到的分析结果主观因素较强，准确性不高的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种参数影响程度分析方法，包括：

获取待分析参数和待分析平台信息；

根据预先构建的知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台信息形成的目标知识关系链；所述知识图谱为包含参数与平台信息对应关系的知识图谱，所述目标知识关系链指示所述待分析参数与所述待分析平台信息在所述知识图谱中的关系；

根据所述知识图谱，获取所述目标知识关系链中的每个相邻实体间的关联关系；

根据每个所述关联关系，确定所述待分析参数对待分析平台的影响程度。

可选的，所述根据预先构建的知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台信息形成的目标知识关系链，包括：

从所述知识图谱中，提取由所述待分析参数到所述待分析平台信息的至少一条知识关系链；

确定所述至少一条知识关系链中，实体数量最少的知识关系链为所述目标知识关系链。

可选的，所述根据每个所述关联关系，确定所述待分析参数对待分析平台的影响程度，包括：

确定预设的关系映射表中，与所述关联关系满足预设条件的第一关联关系；

根据所述关系映射表，获取每个所述第一关联关系对应的关联度；

根据各所述关联度，确定所述待分析参数对所述待分析平台的影响程度，所述关联度与所述影响程度成正相关。

可选的，所述确定预设的关系映射表中，与所述关联关系满足预设条件的第一关联关系，包括：

计算每个所述关联关系与所述预设的关系映射表中的每个第二关联关系的相似度；

确定所述相似度最大的所述第二关联关系为所述第一关联关系。

可选的，所述根据各所述关联度，确定所述待分析参数对所述待分析平台的影响程度，包括：

计算各所述关联度的乘积，将所述乘积作为所述影响程度。

可选的，所述待分析平台信息包括待分析平台名称和待分析平台应用领域；所述预先构建的知识图谱包括第一知识图谱和第二知识图谱，所述第一知识图谱为包含领域与参数对应关系的知识图谱，所述第二知识图谱为包含领域与平台名称对应关系的知识图谱；