[发明专利]一种表贴晶振频率跳点的优化方法

说明书

本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。缩短了设计周期，优化了表贴晶振频率跳点指标。

技术领域

本发明涉及一种优化方法。更具体地，涉及一种表贴晶振频率跳点的优化方法。

背景技术

传统的表贴晶振通常采用改变晶片宽厚比来优化频率跳点指标，但是改变晶片宽厚比来有时并不能起到优化频率跳点指标的作用。

发明内容

有鉴于此，本发明的一个实施例提供一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：

S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。

在一个具体实施例中，所述方法还包括：

S40：将表贴晶振的电极设计为正方形，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S50：将表贴晶振的电极设计为圆形，测试其工作温度范围内的频率跳点。

在一个具体实施例中，若以上步骤任意步骤的表贴晶振，其测试出的工作温度范围内的频率跳点小于预设的数值时，则完成优化。

在一个具体实施例中，选取其工作温度范围内的频率跳点最小的表贴晶振，作为完成优化后的表贴晶振。

在一个具体实施例中，所述S40包括：

S41：将表贴晶振的电极设计为正方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S42：将表贴晶振的电极设计为正方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S43：将表贴晶振的电极设计为正方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。

在一个具体实施例中，所述S50包括：

S51：将表贴晶振的电极设计为圆形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S52：将表贴晶振的电极设计为圆形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；

S53：将表贴晶振的电极设计为圆形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。

在一个具体实施例中，所述长方形大电极的长为所述表贴晶振长的3/4，宽为所述表贴晶振宽的3/4，

所述长方形中电极的长为所述表贴晶振长的1/2，宽为所述表贴晶振宽的1/2，

所述长方形小电极的长为所述表贴晶振长的1/4，宽为所述表贴晶振宽的1/4。

在一个具体实施例中，所述正方形大电极的边长为所述表贴晶振宽的3/4，

所述正方形中电极的边长为所述表贴晶振宽的1/2，

所述正方形小电极的边长为所述表贴晶振宽的1/4。

在一个具体实施例中，所述圆形大电极的直径为所述表贴晶振宽的3/4，

所述圆形中电极的直径为所述表贴晶振宽的1/2，

所述圆形小电极的直径为所述表贴晶振宽的1/4。

本发明的有益效果如下：