[发明专利]一种投影校正方法、装置、投影设备、芯片及介质在审

专利信息
申请号: 202111531019.5 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN114339172A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 查林;王中琦;魏晓帆 申请(专利权)人: 青岛信芯微电子科技股份有限公司
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 杜晶
地址: 266100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 投影 校正 方法 装置 投影设备 芯片 介质
【权利要求书】:

1.一种投影校正方法,其特征在于,所述方法包括:

根据投影设备将预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的图像,确定所述图像中屏幕的第一坐标信息及预设的识别符号的第二坐标信息,其中,所述识别符号为所述预设图像中包含的符号;

获取预先保存的所述识别符号在所述预设图像中的第三坐标信息,根据所述第二坐标信息及所述第三坐标信息,确定将所述第二坐标信息校正为所述第三坐标信息的目标参数;根据所述目标参数及所述第一坐标信息,确定所述第一坐标信息在所述预设图像中的目标坐标信息;

根据所述目标坐标信息及所述预设图像中边界的第四坐标信息,对所述投影设备的投影参数进行调整。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据投影设备将预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的图像,确定所述图像中屏幕的第一坐标信息包括:

获取投影设备将第一预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的第一图像,以及投影设备将第二预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的第二图像;其中,所述第一预设图像为白色图像,所述第二预设图像为黑色图像;

针对每个像素点,确定该像素点在第一图像上的第一亮度值与该像素点在第二图像上的第二亮度值的差值,判断所述差值是否大于第一预设数值,若是,则确定该像素点为所述第一图像中屏幕所在区域的像素点;

根据所述第一图像中屏幕所在区域的每个像素点的坐标信息,确定所述第一图像中屏幕的第一坐标信息。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一图像中屏幕所在区域的每个像素点的坐标信息,确定所述第一图像中屏幕的第一坐标信息包括:

根据所述第一图像中屏幕所在区域的每个像素点的坐标信息,确定所述第一图像中处于屏幕的边界处的每个第二像素点;

针对每个第二像素点,获取第二像素点中距离该第二像素点小于第一预设数量的其他第二像素点,确定每个其他第二像素点与该第二像素点的每个斜率;根据所述每个斜率及对应的权重值,确定该第二像素点的目标斜率;

针对每个第二像素点,获取在第一预设方向上距离该第二像素点的第第二预设数量个目标第二像素点的目标斜率,确定所述目标第二像素点的目标斜率与该第二像素点的目标斜率的斜率差值,若所述斜率差值的绝对值大于第二预设数值,则根据该第二像素点与该目标第二像素点在所述第一预设方向之间的每个第二像素点的坐标信息,确定所述第一图像中屏幕的第一坐标信息。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据投影设备将预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的图像,确定所述图像中预设的识别符号的第二坐标信息包括:

获取投影设备将第三预设图像投影到屏幕上时,采集到的包含屏幕的第三图像;其中,所述第三预设图像中包含至少两种尺寸的识别符号,针对每种尺寸的识别符号,该识别符号至少位于两个相邻的行内,每行包含一种尺寸的识别符号,且位于不同行的识别符号中,存在与尺寸较大的识别符号位置相同的尺寸较小的识别符号;

识别所述第三图像,获取所述第三图像中的每个识别符号,根据每个识别符号在所述第三图像中的尺寸,确定满足要求的目标识别符号,获取所述目标识别符号在所述第三图像中的第二坐标信息。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取所述第三图像中的每个识别符号包括:

针对所述第三图像中每个像素点的像素值,若该像素值大于第三预设数值,则确定该像素点为识别符号所在区域的像素点,根据所述第三图像中每个为识别符号所在区域的像素点,获取所述第三图像中每个识别符号;其中,所述预设图像中识别符号为白色识别符号。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据每个识别符号在所述第三图像中的尺寸,确定满足要求的目标识别符号包括:

根据所述第三图像中每行的识别符号的尺寸,及所述第三预设图像中位于每行的识别符号的尺寸关系,确定所述第三图像中对应的目标识别符号。

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