[发明专利]一种显示屏像素失控点快速检测方法在审
申请号: | 202111514262.6 | 申请日: | 2021-12-13 |
公开(公告)号: | CN114383815A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 郑喜凤;苗静;汪洋;曹慧;丁铁夫 | 申请(专利权)人: | 长春希达电子技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 王淑秋 |
地址: | 130000 吉林省长春市长*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示屏 像素 失控 快速 检测 方法 | ||
本发明涉及一种显示屏像素失控点快速检测方法,该方法如下:用面阵相机采集单基色模块图像并保留单基色模块区域图像;将单基色模块区域图像分割为多个分区,计算各分区所有图像像素点亮度积分值并进行由大到小的排序,找到亮度积分值小于等于截断亮度G0的所有存在盲点的分区,定位盲点并进行灯点更换;用面阵相机采集黑色模块图像并保留黑色模块区域图像;将黑色模块区域图像分割为多个分区,计算各分区所有图像像素点亮度积分值并进行由小到大排序,找到亮度积分值大于等于截断亮度G1的所有存在常亮点的分区,定位常亮点并进行灯点更换。本发明能够轻而易举找到失控点更换灯珠即可,提高了工作效率。
技术领域
本发明涉及一种显示屏的像素失控点检测方法,特别适于LED显示屏像素失控点快速检测方法。
背景技术
LED发光芯片具有体积小、耗电低、使用寿命长、材料安全无毒等优势,目前广泛应用于照明及显示领域。随着芯片技术的进步,目前LED显示应用正朝着户内小间距趋势发展,LED显示屏的失控点(包括盲点和常亮点)作为LED显示屏检测标准之一也越来越重要,特别是在户内显示屏上,由于观看距离较近且要求画质高,因此对失控点数量要求更加严格。《发光二极管(LED)显示屏检测方法》(SJ/T 11281-2017)中明确规定了像素失控率的检测方法及计算公式。LED厂家通常使用目测法识别显示屏上失控的像素数量,显示屏组装成屏前端模块制作环节过程中也多依靠人工判断该模块上失控点位置及数量,及时更换失控点,保证模块制作完毕零失控点。已有的一些基于面阵相机的像素失控率检测方法、都是采用显示像素的逐点分割、逐点识别和逐点判断失控。
人工判断具有直接、快速、方便等优势,但是长期依赖人工判断容易出现误判、视觉疲劳、损害视力等缺点。专利“基于面阵相机的像素失控率检测方法”(申请号201210535517.1)中虽然使用面阵相机进行检测,但是需要得到每个灯点的亮度信息,并且是人工和相机结合共同检测,当面阵相机无法分辨每颗灯点时,需要多区域拼接采集。
显示像素逐点判断失控必然是小面积的面采集,才能做到逐点判断;或者是大面积的低效率的隔行隔列采集(才能实现大面积逐点)。无论哪种都是一个低效率的过程。
对于显示屏生产厂家,判定显示屏失控像素的最主要的目的不仅是在于统计失控率,更重要的维修失控像素、提高成品率。筛选出有失控像素的显示单元(模块)就已经达到了目的。在这个意义下,将失控像素精确定位到逐点已经毫无意义,在这种需求下,精确定位到这个显示单元(模块)某行某列像素失控,不仅没有必要,而且大大降低了生产效率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种显示屏像素失控点快速检测方法,该方法不用每个灯点精确定位即能够快速判断单模块失控像素。
为了解决上述技术问题,本发明的显示屏像素失控点快速检测方法如下:
盲点检测:点亮模块全部灯点,且全部灯点显示三基色中的单基色,用面阵相机采集单基色模块图像;对单基色模块图像进行自动光学检测,保留单基色模块区域图像;将单基色模块区域图像分割为多个分区,计算各分区所有图像像素点亮度积分值并进行由大到小的排序,将第一次出现明显亮度积分值下降的分区亮度积分值作为截断亮度G0,则亮度积分值小于等于截断亮度G0的所有分区均存在盲点;找到存在盲点的分区对应的模块区域,定位盲点并进行灯点更换,完成该单基色盲点的检测;同理,全部灯点依次显示另外两种单基色,重复上述步骤完成另外两种单基色盲点的检测。
常亮点检测:模块全部灯点显示黑色,用面阵相机采集黑色模块图像;对黑色模块图像进行自动光学检测,保留黑色模块区域图像;将黑色模块区域图像分割为多个分区,计算各分区所有图像像素点亮度积分值并进行由小到大排序,将第一次出现明显亮度积分值升高的分区亮度积分值作为截断亮度G1,则亮度积分值大于等于截断亮度G1的所有分区均存在常亮点;找到存在常亮点的分区对应的模块区域,定位常亮点并进行灯点更换,完成常亮点的检测。
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