[发明专利]一种长卷尺辅助测量装置及测量方法在审
| 申请号: | 202111507396.5 | 申请日: | 2021-12-10 |
| 公开(公告)号: | CN114383481A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
| 发明(设计)人: | 王佳源;龚俊;徐攀;雷文浩;陈大为 | 申请(专利权)人: | 中国一冶集团有限公司 |
| 主分类号: | G01B3/1003 | 分类号: | G01B3/1003;G01B3/1046;G01B3/1084;G01B3/1092;G01B3/1094 |
| 代理公司: | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人: | 夏德政 |
| 地址: | 430080 湖北省武汉市青山*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 卷尺 辅助 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种长卷尺辅助测量装置,其特征在于,包括:外壳、水平度测量组件、卷尺松紧控制组件及激光发射装置;其中,
所述外壳具有可开合的上、下盒体,所述上盒体和所述下盒体之间具有预设缝隙,用以容置卷尺;
所述卷尺松紧控制组件设置在所述外壳的内部一侧,用以在所述上盒体与所述下盒体闭合后,放松或收紧所述卷尺;
所述水平度测量组件设置在所述外壳的上表面,用以调平所述卷尺;
所述激光发射装置置于所述外壳的内部,且所述外壳的下表面上开设有激光透射孔,用以使得所述卷尺在垂直方向上与待测点对准。
2.根据权利要求1所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述卷尺松紧控制组件包括:相配合的上压块组件和下压块组件;其中,
所述上压块组件设置在所述上盒体的一侧,所述下压块组件设置在所述下盒体上与所述上压块组件相对应的位置;
所述上压块组件由第一弹簧和上压块连接而成;所述下压块组件由第二弹簧和下压块连接而成;
所述下压块组件上设置有调节螺柱,所述调节螺柱穿过所述下盒体,且所述调节螺柱的一端与所述第二弹簧相连接,用以在拧紧时,在所述第二弹簧的作用下,使得所述下压块组件和所述上压块组件将所述卷尺压紧,并在拧松时,松开所述卷尺。
3.根据权利要求2所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述下压块的表面两侧分别设置有一挡杆,用以限制所述卷尺的位置,防止其在测量的过程中发生偏移。
4.根据权利要求2所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述上压块和所述下压块相靠近的一侧设置有相咬合的齿节。
5.根据权利要求1所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述水平度测量组件为水平尺。
6.根据权利要求1所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述外壳的上表面设置有开口,所述开口的上下边缘处还设置有刻度定位部。
7.根据权利要求1所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述上盒体与所述下盒体的一侧铰接,所述上盒体的一侧设置有卡接凸起,所述下盒体上对应设置有卡接槽,所述卡接凸起与所述卡接槽相配合,以实现所述外壳的开合。
8.根据权利要求1所述的长卷尺辅助测量装置,其特征在于,所述激光发射装置由直流电源供电,且所述激光发射装置通过开关与所述直流电源连接。
9.一种如权利要求1至8中任一项所述的长卷尺辅助测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
打开外壳,将卷尺上需测量的数值部分放置在外壳的中间位置后,关闭外壳,以将卷尺固定;
通过卷尺松紧控制组件对卷尺的刻度进行调节;
打开激光发射装置,调整卷尺,使得激光束对准待测点;
调平水平度测量组件后,即可开始测量。
10.根据权利要求9所述的长卷尺辅助测量装置的测量方法,其特征在于,所述步骤2中,反复调整卷尺松紧控制组件,将所述卷尺的初始参考刻度数值与所述外壳上的刻度定位部对齐。
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