[发明专利]一种参数确定方法、性能验证方法、装置和相关设备

说明书

本发明实施例提供了一种参数确定方法、性能验证方法、装置和相关设备，包括：获取基础数据，该基础数据包括设计的功能验证数据，获取基础数据中的目标性能数据，对目标性能数据进行分析处理，获得设计的目标性能参数。由于目标性能数据能够表征设计在功能验证过程中的目标性能状态，因此，对目标性能数据进行分析处理之后，可以获得设计的目标性能参数，从而可以基于目标性能参数，对设计的目标性能进行验证。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路设计技术领域，具体涉及一种参数确定方法、性能验证方法、装置和相关设备。

背景技术

集成电路设计中，不仅要验证设计的功能是否与预期的功能一致，还要验证设计的性能是否达到预期。但是，目前设计的性能验证方法都不太成熟，限制了设计性能的验证。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种参数确定方法、性能验证方法、装置和相关设备，以对设计的性能进行验证。

为解决上述问题，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明第一方面提供了一种参数确定方法，包括：

获取基础数据，所述基础数据包括设计的功能验证数据；

获取所述基础数据中的目标性能数据；所述目标性能数据能够表征所述设计在功能验证过程中的目标性能状态；

对所述目标性能数据进行分析处理，获得所述设计的目标性能参数。

本发明第二方面提供了一种参数确定装置，包括：

第一获取模块，用于获取基础数据，所述基础数据包括设计的功能验证数据；

第二获取模块，用于获取所述基础数据中的目标性能数据；所述目标性能数据能够表征所述设计在功能验证过程中的目标性能状态；

性能分析模块，用于对所述目标性能数据进行分析处理，获得所述设计的目标性能参数。

本发明第三方面提供了一种性能验证方法，包括：

获取基础数据，所述基础数据包括设计的功能验证数据；

获取所述基础数据中的目标性能数据；所述目标性能数据能够表征所述设计在功能验证过程中的目标性能状态；

对所述目标性能数据进行分析处理，获得所述设计的目标性能参数；

将所述目标性能参数与预期性能参数进行比较，以验证所述设计的性能是否达到预期。

本发明第四方面提供了一种性能验证装置，包括：

第一获取模块，用于获取基础数据，所述基础数据包括设计的功能验证数据；

第二获取模块，用于获取所述基础数据中的目标性能数据；所述目标性能数据能够表征所述设计在功能验证过程中的目标性能状态；

性能分析模块，用于对所述目标性能数据进行分析处理，获得所述设计的目标性能参数；

性能验证模块，用于将所述目标性能参数与预期性能参数进行比较，以验证所述设计的性能是否达到预期。

本发明第五方面提供了一种计算机设备，包括：

存储器，存储至少一组指令；

处理器，执行所述至少一组指令执行如上任一项所述的参数确定方法，或者，如上所述的性能验证方法。

本发明第六方面提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质存储至少一组指令，所述至少一组指令用于使处理器执行如上任一项所述的参数确定方法，或者，如上所述的性能验证方法。