[发明专利]一种掺稀土光纤预制棒轴向吸收均匀性的测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111504617.3 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN114199517A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 武洋;潘蓉;朱维震;刘君;衣永青;杨鹏;庞璐;沈一泽;耿鹏程 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/84
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 稀土 光纤 预制 轴向 吸收 均匀 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种掺稀土光纤预制棒轴向吸收均匀性的测试装置,其特征在于,所述装置包括测试光源组件,预制棒固定装置和探测器;其中,测试光源组件固定在位移导轨上,测试光源组件和探测器由紧固件连接,使两者同步水平运动,运动方向和预制棒轴向一致;探测器固定在位移平台上,位移平台在紧固件上垂直于掺稀土光纤预制棒的轴向运动,位移平台固定在支撑座上;所述预制棒固定装置由两个圆形卡盘组成,两个卡盘垂直固定在支撑座上,两个卡盘圆心连接线水平且平行于位移导轨,两个卡盘沿圆心转动。

2.一种采用如权利要求1所述的掺稀土光纤预制棒轴向吸收均匀性的测试装置的测试方法,其特征在于,所述测试方法步骤如下:

S1、使用酒精或丙酮将待测掺稀土光纤预制棒的表面擦拭干净,避免油污污染;

S2、将待测掺稀土光纤预制棒穿过两个卡盘圆心,由两个卡盘紧固预制棒的两端;

S3、调节测试光源组件垂直位置,使光斑的边缘位于掺稀土光纤预制棒径向两侧,确保掺稀土光纤预制棒在径向上完全被光源照射;

S4、调整测试光源组件和探测器水平位置,使光斑照射在待测掺稀土光纤预制棒的轴向待测位置;记录该位置探测器接收的光功率值;

S5、移动测试光源组件和探测器的水平位置,对待测掺稀土光纤预制棒的轴向不同位置进行测试,并记录不同位置的功率值;

S6、根据待测掺稀土光纤预制棒的轴向不同位置的测试功率值,得到待测稀土光纤预制棒轴向上的吸收均匀性。

3.根据权利要求2所述的一种掺稀土光纤预制棒轴向吸收均匀性的测试方法,其特征在于,所用测试光源组件输出的波长根据光纤预制棒掺杂的稀土离子确定。

4.根据权利要求3所述的一种掺稀土光纤预制棒轴向吸收均匀性的测试方法,其特征在于,所述测试光源组件的输出光束垂直照射待测稀土光纤预制棒轴向,且照射在预制棒上的光斑尺寸大于待测稀土光纤预制棒直径,确保待测稀土光纤预制棒纤芯径向上完全被光束照射。

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