[发明专利]一种芯片测试方法和系统

说明书

本发明提供一种芯片测试方法和系统，由服务器、交换机和至少一个通过交换机与服务器连接的测试机台组成，所述方法包括：经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。本发明能够通过测试机台根据其当前芯片的测试需求从服务器中获取对应测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法和系统。

背景技术

目前芯片生产过程中，芯片的SLT测试(system level test，即系统级别测试)是芯片测试重要一环，SLT测试的一般测试方法是把封装好的芯片安装到测试版上，启动专用的SLT测试软件或者常规的系统软件等，记录测试结果。由于SLT测试能够有效提高芯片出厂的良率，因此SLT测试是决定芯片的是否合格的最后环节。

如附图1所示，现有的SLT测试系统基本架构普遍采用的是一台服务器和通过交换机控制多个机台进行测试，属于常用的C/S架构，每个机台都在服务器的控制下独立测试芯片，每个机台彼此之间不干涉，不需要同时开始和结束测试。

随着芯片产品需求不断的变化，芯片产品系列不断的增加，SLT测试中不同系列产品共享测试机台已成为不得不面对的问题。解决这个问题的核心是如何在产品切换时快速高效的实现对测试用例的更新。

目前主流的实现机台共享的方法如下：

测试产品更换时手动更新机台测试用例

工程师预先手动对一个测试机台进行测试用例更新，然后生产技术人员以此机台硬盘为标准测试硬盘，通过磁盘复制机器，对其他机台磁盘进行完全镜像。

但是对于方法中测试产品更换时手动更新机台测试用例具有以下三点明显缺点：

·效率低，每次转换测试产品，需要花费数小时的时间。

·安全性差，没法对每个机台程序做检验，人工操作容易出错。

·灵活性差，不能做到随时切换产品，对产品出货影响大。

因此，由于上述场景以及现有技术中所存在的问题，严重阻碍了芯片产品SLT测试的效率、可靠性和安全性能，同时也延长了芯片产品的迭代周期。因此亟需提供一种能够实现多系列产品共享测试机台的方法，以解决上述现有技术中存在的问题。

发明内容

本发明提供的一种芯片测试方法和系统，能够通过在服务器中按照芯片的产品参数将不同的多用测试用例、和/或产品配置文件、和/或测试机台的版本号布置到固定存储位置，然后由测试机台根据其当前芯片的测试需求进行对测试机台的测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。

第一方面，本发明提供一种芯片测试方法，应用于至少一个测试机台，所述至少一个测试机台与服务器连接，所述方法包括：

经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；

识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；

如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；

如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。

可选地，所述如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程包括：