[发明专利]一种多通道收发组件移相转换时间测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种多通道收发组件移相转换时间测试系统，属于收发组件幅相控制技术领域，包括N通道收发组件，第一N路功分/合成器D、第二N路功分/合成器、信号源、检波器、示波器、控制装置，其中，N≥2。本发明相对于传统的测试方法，对于多通道组件的移相转换时间的测试更为便利，完成组件的固定连接后，即可依次完成各个通道的移相转换时间的测试，无需再更换通道；只要改变控制码值亦可用来直接测量收发组件的衰减转换时间，不需要增加开关矩阵的切换开关和鉴相器，更有利于收发组件测试系统的集成，值得被推广使用。

技术领域

本发明涉及收发组件幅相控制技术领域，具体涉及一种多通道收发组件移相转换时间测试系统及方法。

背景技术

收发组件作为有源相控阵天线中的基本组成单元，在系统中具有极其重要的作用。收发组件接收工作时，将天线馈入的信号低噪声放大，再通过衰减器和移相器或延时器对信号进行幅度和相位的调整。收发组件发射工作时，将输入的小信号经过移相器进行相位调整后，再通过组件内部放大链路进行放大。放大后的信号达到系统需要的量值后再经过天线阵发射出去。

有源相控阵天线进行波束扫描时，需要组件通过移相器工作在不同的相位态使得天线单元处于所需的相位差。因此，移相器相位改变的速度就决定了天线扫描的速度。在相控阵天线系统设计时需要对移相器响应时间对系统的影响进行计算或仿真，组件亦需要对上述相关器件的响应时间进行测量。

考虑到波束扫描时计算机控制的便利性，目前收发组件内部通常会采用M位数字控制式移相器。该类移相器通常采用多个并行控制信号控制其内部开关的导通或关断，使得其M个移相基态处于导通或关断状态，通过逻辑组合可形成2^M个不同的相位态。为了简化组件与系统的控制接口，组件的控制信号通常会采用串行信号，经过串并转换器件变成并行控制信号后再对内部的移相器等其他器件进行控制。因此该指标实际测量时通常定义成为通道内移相器移相功能生效时间与串行数据锁存信号SET上升(或下降)沿的时间差。如图1所示，即为对移相转换时间的定义。

该项指标(移相转换时间)常规测试方法在测试过程中存在一定的不足，比如，在对多通道组件的不同通道测试时，需要更换连接的不同通道，而且需要增加开关矩阵的切换开关和鉴相器，非常不利于收发测试系统的集成。上述问题亟待解决，为此，提出一种多通道收发组件移相转换时间测试系统。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于：如何解决现有测试方法在测试存在的需要更换连接的不同通道，而且需要增加开关矩阵的切换开关和鉴相器等问题，提供了一种多通道收发组件移相转换时间测试系统，该系统可以实现对多通道收发组件的移相转换时间进行快速、准确和便利的测量。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本发明包括N通道收发组件，第一N路功分/合成器D、第二N路功分/合成器、信号源、检波器、示波器、控制装置，其中，N≥2；所述信号源、所述第一N路功分/合成器、所述N通道收发组件、所述第二N路功分/合成器、所述检波器、所述示波器依次通信连接，所述控制装置与所述示波器通信连接，所述示波器的两个探测端口分别接收由所述检波器输出的多通道合成信号、由所述控制装置产生的控制N通道收发组件内部通道移相的置位信号SET。

更进一步地，所述N通道收发组件的接收通道输入端与第一N路功分/合成器的分口相连接，接收通道输出端与第二N路功分/合成器的分口相连。

更进一步地，所述信号源的信号输出端与第一N路功分/合成器的总口相连。

更进一步地，所述检波器的信号输入端与第二N路功分/合成器的总口相连接，检波器的信号输出端与示波器的第一探测端口相连接。

更进一步地，所述N通道收发组件，包括N个收发通道，被测的收发通道上设有M位数控移相器。

更进一步地，所述第一N路功分/合成器和第二N路功分/合成器的工作频段覆盖所述N通道收发组件测试的射频频率点。