[发明专利]深度信息获取方法和装置、电子设备、计算机可读介质

权利要求书

1.一种深度信息获取方法，其特征在于，所述方法包括：

获取被测目标被光源阵列照射后的第一反射光线，所述光源阵列包括位于同一平面的多个点光源，所述第一反射光线为预设方向的反射光线；

根据所述第一反射光线计算所述被测目标的表面法线；

根据所述被测目标的表面法线获取所述被测目标的深度信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一反射光线计算所述被测目标的表面法线，包括：

获取所述第一反射光线在第一方向上的第一辐射亮度分量以及所述第一反射光线在第二方向上第二辐射亮度分量，所述第一方向为与放置所述被测目标的平面平行的预设方向，所述第二方向为与放置所述被测目标的平面平行且与所述第一方向垂直的方向；

根据所述第一辐射亮度分量计算所述被测目标的表面法线在所述第一方向上的第一法线向量分量，根据所述第二辐射亮度分量计算所述被测目标的表面法线在所述第二方向上的第二法线向量分量；

根据所述第一法线向量分量和第二法线向量分量计算所述被测目标表面法线在第三方向的第三法线向量分量，所述第三方向为与放置所述被测目标的平面垂直的方向，所述被测目标的表面法线包括第一法线向量分量、第二法线向量分量、第三法线向量分量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据所述第一反射光线计算所述被测目标的表面法线之前还包括：

在所述光源阵列的照射图案为恒定光图案的情况下，获取所述被测目标被所述光源阵列照射后的第二反射光线；

所述根据所述第一反射光线计算所述被测目标的表面法线包括：

根据所述第一反射光线和所述第二反射光线，确定所述被测目标的表面法线。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述获取被测目标被光源阵列照射后的第一反射光线，包括：

获取所述被测目标被所述光源阵列的多种不同的照射图案分别照射后的多个第一反射光线；

所述根据所述第一反射光线和所述第二反射光线计算所述被测目标的表面法线包括：

根据每个第一反射光线和所述第二反射光线计算所述被测目标的部分表面法线；

根据所有所述被测目标的部分表面法线计算所述被测目标的表面法线。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取被测目标被光源阵列照射后的第一反射光线之前还包括：

根据所述被测目标的尺寸，对所述光源阵列的照射光进行调整。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述被测目标的深度信息包括所述被测目标的深度图像、所述被测目标对应的法线贴图；

所述根据所述被测目标的表面法线获取所述被测目标的深度信息包括：

对所述被测目标的表面法线做积分运算获取所述被测目标的深度图像；

根据所述被测目标的表面法线获取所述被测目标对应的法线贴图。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述被测目标的表面法线获取所述被测目标的深度信息之后，还包括：

将所述被测目标的深度信息发送至边缘服务器，以供所述边缘服务器存储所述被测目标的深度信息以及云服务器获取所述被测目标的深度信息。

8.一种深度信息获取装置，其特征在于，所述装置包括：

图像模块，用于获取被测目标被光源阵列照射后的第一反射光线，所述光源阵列包括位于同一平面的多个点光源，所述第一反射光线为预设方向的反射光线；

第一计算模块，用于根据所述第一反射光线计算所述被测目标的表面法线；

第二计算模块，用于根据所述被测目标的表面法线获取所述被测目标的深度信息。