[发明专利]一种各向同性电磁场探头的修正测量方法在审

专利信息
申请号: 202111492079.0 申请日: 2021-12-08
公开(公告)号: CN114217247A 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 陆德坚;张群涛;左钊鑫;张凯东;万旭军 申请(专利权)人: 北京森馥科技股份有限公司
主分类号: G01R33/00 分类号: G01R33/00
代理公司: 北京汇众通达知识产权代理事务所(普通合伙) 11622 代理人: 李志男
地址: 102218 北京市昌平*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 各向同性 电磁场 探头 修正 测量方法
【权利要求书】:

1.一种各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述场探头包括三个正交布置的传感器;所述方法包括:

通过所述场探头的传感器对场进行测量;

存储所述传感器的测量值;

建立映射关系;

得到初始总场强和角度值;

基于所述测量值而得到所述角度值的校正因子h;

基于所述初始总场强和所述校正因子得到总场强。

2.根据权利要求1所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述传感器对场测量包括测量每个传感器获得的检波电压值和场强值。

3.根据权利要求2所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述映射关系的建立包括建立所述检波电压值与所述场强值的映射关系。

4.根据权利要求3所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述场探头包括三个正交布置的电磁场传感器,并且测量由每个传感器对于每个角度值来进行。

5.根据权利要求2所述的各向同性电磁探头的修正测量方法,其特征在于,所述初始总场强通过以下公式获得:

所述Ex、Ey和Ez分别为不同传感器的场值。

6.根据权利要求5所述的各向同性电磁探头的修正测量方法,其特征在于,所述不同传感器的场值通过以下公式获得:

Ex=f(Ux);

Ey=f(Uy);

Ez=f(Uz);

所述U为检波电压,E为场强幅度,f为关于U的函数。

7.根据权利要求2所述的各向同性电磁探头的修正测量方法,其特征在于,所述角度值通过以下公式确定:

8.根据权利要求1所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述校正因子通过以下公式获得:

其中,h为所述角度组的校正因子,Emax和Emin分别为以X-Y-Z坐标系统所表达通过所述三个传感器所测量的最大总场强值和最小总场强值。

9.根据权利要求8所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述Emin为所述三个传感器与入射电磁场的极化方向的夹角相同所测得的场强值。

10.根据权利要求8所述的各向同性电磁场探头的修正测量方法,其特征在于,所述Emax为所述三个传感器中其中一个传感器场强值最大,剩余两个传感器场强最小时所测得的场强值。

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