[发明专利]一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备

说明书

本发明提供了一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备，其中，该方法包括：获取多个学生的前测成绩和后测成绩；利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各学生的学业增值量进行计算；其中，学业增值量，用于对学生的学业的进步情况进行评价；对各学生的学业增值量进行修正。通过本发明实施例提供的学生学业增值评价方法、装置和电子设备，采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量，确定学生的学业的进步情况，整个评价过程容易使用且实用性强。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备。

背景技术

目前，在教育测评领域，一般会进行相隔一段时间的前后两次考试的成绩（即前测成绩和后测成绩），然后以前后测结果为基础来衡量学生的学业进步情况，这就是增值评价。

通常来说，考试是有满分值的，并且存在得分接近满分的高分学生。高分学生相对于其他学生而言，其进步空间是更小的，例如前测和后测的满分值均为100分时，前测中考了90分的学生，后测最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间为10分，而前测中考了80分的学生，后测也是最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间则为20分。由于进步空间的局限，增值评价结果对高分学生可能是不公平的。这便是天花板效应的体现。

为了缓解天花板效应，可以构建垂直量表，把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较；但这样的方法在现阶段比较难实现。

发明内容

为解决上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备。

第一方面，本发明实施例提供了学生学业增值评价方法，包括：

获取多个学生的前测成绩和后测成绩；

利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算；其中，所述学业增值量，用于对所述学生的学业的进步情况进行评价；

对各所述学生的学业增值量进行修正。

第二方面，本发明实施例还提供了一种学生学业增值评价装置，包括：

获取模块，用于获取多个学生的前测成绩和后测成绩；

处理模块，用于利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算；其中，所述学业增值量，用于对所述学生的学业的进步情况进行评价；

修正模块，用于对各所述学生的学业增值量进行修正。

第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述第一方面所述的方法的步骤。

第四方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括有存储器，处理器以及一个或者一个以上的程序，其中所述一个或者一个以上程序存储于所述存储器中，且经配置以由所述处理器执行上述第一方面所述的方法的步骤。

本发明实施例上述第一方面至第四方面提供的方案中，利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对用于对学生的学业的进步情况进行评价的学业增值量进行计算；并对各学生的学业增值量进行修正，从而利用修正后的学业增值量，最终确定学生的学业的进步情况，与相关技术中为了缓解天花板效应，需要把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较的方式相比，采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量，确定学生的学业的进步情况，整个评价过程更容易使用且实用性更强。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明