[发明专利]一种基于显著图解释多被试复数fMRI数据CNN分类结果的方法在审

专利信息
申请号: 202111480785.3 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN114239705A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 林秋华;牛妍炜 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06N3/04;A61B5/055;A61B5/00;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82
代理公司: 辽宁鸿文知识产权代理有限公司 21102 代理人: 王海波
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
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【权利要求书】:

1.一种基于显著图解释多被试复数fMRI数据CNN分类结果的方法,通过将单被试的切片样本送入一个训练好的CNN模型,获得卷积层输出的特征图,然后将卷积层多通道特征图进行平均并上采样到与输入样本同样的尺寸,经过归一化、取阈值获得分类过程中所依据的显著特征,以解释单被试的分类结果;对于多个被试,将同类被试的特征图先取平均,归一化后取阈值获得分类过程中所依据的组显著特征,用于解释多被试的分类结果;其特征在于,以下步骤:

第一步:将被试j沿z轴的二维SSP切片样本输入一个训练好的2D-CNN模型,SSP切片表示为J是被试总数,X×Y为SSP切片的大小,x=1,…,X,y=1,…,Y;

第二步:提取2D-CNN卷积层的特征图,从2D-CNN模型中提取某一卷积层输出的特征图,表示为K为通道数,X′×Y′为特征图的大小,X'、Y'由对应层的卷积核尺寸决定,j=1,…,J,J是被试总数;

第三步:多通道特征图平均,将卷积层K个通道的特征图进行平均,如下:

第四步:平均特征图上采样,对插值,使其与输入SSP切片样本大小X×Y相同,表示为J是被试总数;

第五步:生成单被试显著图,对归一化后取阈值得到单被试显著图,表示为其中

为单被试分析中控制显著程度的阈值,根据与CNN所输入的SSP切片激活相近的原则确定;j=1,…,J,,J是被试总数;

第六步:生成多被试组特征图,将同类单被试的上采样平均特征图进行平均,得到组特征图,如下:

式中,J′是同类被试总数;

第七步:生成多被试组显著图,对归一化后取阈值得到组显著图,表示为其中

为多被试组分析中控制显著程度的阈值,可以等于单被试分析中控制显著程度的阈值;

第八步:输出单被试显著图、多被试组显著图。

2.根据权利要求1所述的一种基于显著图解释多被试复数fMRI数据CNN分类结果的方法,其特征在于,所述第五步中,控制单被试显著程度阈值的取值范围为,J是被试总数。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于显著图解释多被试复数fMRI数据CNN分类结果的方法,其特征在于,所述第七步中,控制多被试显著程度阈值的取值范围为

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