[发明专利]一种基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法

权利要求书

1.一种基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：利用图像采集设备对加工表面进行拍照并获取其图像样本；

S2：利用图像三个颜色通道的强度信息，将彩色图像样本转换为单通道的灰度图像；

S3：沿着图像水平方向提取经过图像中心点的行灰度信息I_row；

S4：沿着图像垂直方向提取经过图像中心点的列灰度信息 I_column；

S5：分别计算对应的行灰度信息和列灰度信息的稀疏测度；

S6：计算行灰度信息和列灰度信息的稀疏测度的平方差绝对值；

S7：以1°为间隔，在角度范围[-90°, 90°]内，旋转图片至对应角度，并在每个旋转图片上重复步骤S1至S6，获取一个新的平方差绝对值，最终形成一个平方差绝对值序列；

S8：寻找平方差绝对值序列最大值，则其平方差绝对值序列最大值所在角度即为加工表面纹理倾斜角度；

S9：根据寻找到的加工表面纹理倾斜角度对加工表面图像进行旋转即可实现纹理倾斜的校正；

所述的步骤S5中,稀疏测度pq-mean的计算方法为：

；

其中为对应行或者列的灰度信息，为所有元素的个数，为数列内元素对应序号，和为对应的指数信息，其中。

2.根据权利要求1所述的基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法，其特征在于，所述的步骤S2中,单通道的灰度图像生成方法为：

其中，I为生成的灰度图像，R为彩色图像的红色通道，G为彩色图像的绿色通道，B为彩色图像的蓝色通道。

3.根据权利要求1所述的基于pq-mean分布的加工表面纹理倾斜校正方法，其特征在于，所述的步骤S6中, 平方差绝对值的计算方法为：

；

其中为行灰度信息对应的稀疏测度，为列灰度信息对应的稀疏测度。