[发明专利]光电探测器在审
| 申请号: | 202111478684.2 | 申请日: | 2021-12-06 |
| 公开(公告)号: | CN114171613A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
| 发明(设计)人: | 吴昊;郑学哲 | 申请(专利权)人: | 苏州旭创科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/0232 | 分类号: | H01L31/0232;H01L31/0352;H01L31/105 |
| 代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 杨明莉 |
| 地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电 探测器 | ||
1.一种光电探测器,其特征在于,所述光电探测器包括:
波导层;
吸收层,所述吸收层位于所述波导层的上表面或至少部分嵌入所述波导层内;
包层材料,所述包层材料覆盖所述波导层及吸收层的顶部及侧壁;
其中,所述光电探测器至少一端面为入光面,所述吸收层在临近所述入光面的端面的厚度小于其他部分的厚度。
2.根据权利要求1所述的光电探测器,其特征在于,所述波导层的厚度大于所述包层材料的厚度。
3.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层在临近所述入光面的端面宽度小于所述吸收层其他部分的宽度。
4.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述波导层在临近所述入光面的端面宽度大于所述波导层其他部分的宽度。
5.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层在所述波导层上表面的正投影至少部分位于所述波导层上表面内。
6.根据权利要求5所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层在所述波导层上表面的正投影位于所述波导层的上表面内,且所述吸收层的中心线偏离所述波导层的中心线。
7.根据权利要求5所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层在所述波导层上表面的正投影部分位于所述波导层的上表面内,且所述吸收层的中心线偏离所述波导层的中心线。
8.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述波导层相较于相较于所述吸收层延伸方向倾斜预设角度。
9.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述波导层临近所述入光面的端面呈台阶状。
10.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层包括:
第一吸收层及第二吸收层,所述第一吸收层与所述第二吸收层一体连接,且所述第一吸收层位于所述第二吸收层与所述入光面之间;所述第一吸收层的光能量吸收率小于第二吸收层的光能量吸收率。
11.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述吸收层的光能量吸收率自所述入光面向远离入光面的方向逐渐增大。
12.根据权利要求1或2所述的光电探测器,其特征在于,所述波导层包括:
第一波导层及第二波导层,所述第二波导层嵌入所述第一波导层内,且所述第二波导层的上表面高于所述第一波导层的上表面,所述吸收层位于所述第二波导层上表面或至少部分嵌入所述第二波导层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





