[发明专利]静电环电路、测试电路、阵列基板、显示面板及显示装置

说明书

本申请提供了一种静电环电路、测试电路、阵列基板、显示面板及显示装置。静电环电路位于显示面板的周边区域，所述静电环电路包括依次电连接的所述静电环电路的第一端、第一开关单元、第三开关单元、第二开关单元和所述静电环电路的第二端；所述第一开关单元和所述第二开关单元均包括两个开关模块。本申请的静电环电路中第一开关单元、第三开关单元、第二开关单元，各对静电实现一次压降，使得静电环电路能够实现三次压降，使静电从一端到另一端得到了极大的削弱，提升显示面板的抗静电能力，保证显示面板正常显示。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体而言，本申请涉及一种静电环电路、测试电路、阵列基板、显示面板及显示装置。

背景技术

Micro LED(即微缩化LED)显示技术作为目前众多显示技术中的一种具有颠覆性的显示技术，是一种将LED微缩至1～10μm(微米)，并通过矩阵化技术及巨量转移技术嫁接于显示面板中，以实现高清显示的一种新型显示技术。相比于现有的绝大多数显示技术，Micro LED显示技术具有高发光效率，高对比度，低功耗等优点。且随着时代的发展与进步，其日渐成为显示领域中的一股新兴力量，并对显示的高端市场产生深刻的影响。

通常情况下，显示面板在制程中一般需要经历三个检测阶段，分别为AT(ArrayTest，阵列检测)，CT(Cell Test，液晶盒检测)以及FT(Final Test，最终检测)，以保证其用户端的最终品质。为了实现AT检测，显示面板需要在面板周边设计相应的AT Pad信号线，以使AT设备能接触到相应的面板测试点，实现检测信号的加载，但这些显示面板周边的信号线也成为了后续ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)高发的风险点。

目前，常规的静电环电路主要包括两个TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)，该两个TFT形成环形连接方式。但该静电环电路在静电来临时，只能实现一次静电的压降，即正电压结构只能释放正向大电压，负电压结构只能释放负向大电压，导致现有的静电环电路抗静电能力有限。

发明内容

本申请针对现有方式的缺点，提出一种静电环电路、测试电路、阵列基板、显示面板及显示装置。

第一方面，本申请实施例提供了一种静电环电路，位于显示面板的周边区域，静电环电路包括：依次电连接的静电环电路的第一端、第一开关单元、第三开关单元、第二开关单元和静电环电路的第二端；

第一开关单元和第二开关单元均包括两个开关模块；

静电环电路的第一端，与第一开关单元中的一个开关模块的控制端和第一端、以及第一开关单元中的另一个开关模块的第二端都电连接；

静电环电路的第二端，与第二开关单元中的一个开关模块的控制端和第一端、以及第二开关单元中的另一个开关模块的第二端都电连接；

静电环电路的第一端和静电环电路的第二端中的一端用于与显示面板的一个信号线电连接，静电环电路的第一端和静电环电路的第二端中的另一端用于与显示面板的另一个信号线或参考电极走线电连接。

第二方面，本申请实施例提供了一种测试电路，位于显示面板的周边区域；显示面板包括显示区域和位于显示区域外围的周边区域；

测试电路包括多个信号线、参考电极走线和多个如第一方面的静电环电路；

每个静电环电路的第一端和静电环电路的第二端中的一端，与一个信号线电连接；静电环电路的第一端和静电环电路的第二端中的另一端，与另一个信号线或参考电极走线电连接。

第三方面，本申请实施例提供了一种阵列基板，包括至少一个如第二方面的测试电路；

测试电路位于阵列基板所属显示面板的周边区域。

第四方面，本申请实施例提供了一种显示面板，包括如第三方面的阵列基板；