[发明专利]低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法有效
| 申请号: | 202111451086.6 | 申请日: | 2021-12-01 |
| 公开(公告)号: | CN113872683B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
| 发明(设计)人: | 张祥波;黄望隆;郜定山 | 申请(专利权)人: | 武汉驿路通科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/073 | 分类号: | H04B10/073;H04J14/02 |
| 代理公司: | 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 | 代理人: | 王力 |
| 地址: | 430200 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通道 波导 阵列 光栅 分解 复用器 耦合 测试 系统 方法 | ||
1.一种低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统,其特征在于:包括扫描光源(1)、偏振控制器(2)、第一耦合单点光源(3)、第一光开关(4)、单纤(5)、解复用器芯片(6)和多模光纤阵列(7),所述扫描光源(1)与所述偏振控制器(2)耦合连接,所述偏振控制器(2)与所述第一光开关(4)的一路通道耦合连接,所述第一耦合单点光源(3)与所述第一光开关(4)的另一路通道耦合连接,所述第一光开关(4)、单纤(5)、解复用器芯片(6)和多模光纤阵列(7)顺次耦合连接,所述多模光纤阵列(7)的多个输出通道分别与多通道功率计(10)的多个输入通道一一对应耦合连接,所述扫描光源(1)、偏振控制器(2)、第一耦合单点光源(3)、第一光开关(4)、解复用器芯片(6)和所述多通道功率计(10)分别与计算机控制系统电连接;
所述计算机控制系统用于控制所述第一光开关(4)的另一路与所述第一耦合单点光源(3)耦合连通,且所述第一耦合单点光源(3)输出的光信号依次经由所述第一光开关(4)、单纤(5)、解复用器芯片(6)和多模光纤阵列(7)并到达多通道功率计(10);
所述多通道功率计(10)用于检测所述第一耦合单点光源(3)输出光信号的光功率值,以便根据所述第一耦合单点光源(3)输出光信号的光功率值将所述单纤(5)和多模光纤阵列(7)分别与所述解复用器芯片(6)对准耦合;
所述计算机控制系统还用于控制所述第一光开关(4)切换至另一路并与所述扫描光源(1)光路连通,且所述扫描光源(1)输出的不同波长的光信号经过所述偏振控制器(2)输入至所述单纤(5),并经过所述解复用器芯片(6)解复用后生成多路不同波长的光信号达到所述多模光纤阵列(7);
所述多模光纤阵列(7)用于将不同通道输出的不同波长的光信号分别输出至所述多通道功率计(10)对应的通道,以便所述多通道功率计(10)检测不同波长光信号的光功率值;
所述计算机控制系统还用于根据不同波长的光信号的光功率值生成插入损耗曲线,并根据所述插入损耗曲线计算所述波分解复用器的光学性能指标。
2.根据权利要求1所述的低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统,其特征在于:还包括电动滑台,所述单纤(5)、解复用器芯片(6)和多模光纤阵列(7)分别设置在所述电动滑台上,所述电动滑台与所述计算机控制系统电连接,且所述电动滑台可调节所述单纤(5)和多模光纤阵列(7)相对于所述解复用器芯片(6)位置。
3.根据权利要求1所述的低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统,其特征在于:还包括第二耦合单点光源(11)和第二光开关(12),所述第一耦合单点光源(3)和第二耦合单点光源(11)分别与所述第二光开关(12)的两个输入通道对应耦合连接,所述第二光开关(12)的输出通道与所述第一光开关(4)的另一路通道耦合连接,所述第二耦合单点光源(11)和第二光开关(12)分别与所述计算机控制系统电连接。
4.根据权利要求1所述的低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统,其特征在于:还包括第一分路器PLC(8)和第一单通道功率计(9),所述多模光纤阵列(7)的首输出通道与第一分路器PLC(8)的输入通道耦合连接,所述第一分路器PLC(8)的一个输出通道与第一单通道功率计(9)的输入通道耦合连接,所述第一分路器PLC(8)的另一个输出通道与多通道功率计(10)的首输入通道耦合连接,所述多模光纤阵列(7)的其余中间输出通道和尾输出通道分别与所述多通道功率计(10)的其余中间输入通道和尾输入通道一一对应耦合连接,所述第一分路器PLC(8)和第一单通道功率计(9)分别与所述计算机控制系统电连接。
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