[发明专利]一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法在审
申请号: | 202111448440.X | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114136556A | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 綦磊;孙立臣;闫荣鑫;郑悦;欧逍宇;刘涛;孟冬辉;孙伟;杨再华 | 申请(专利权)人: | 北京卫星环境工程研究所 |
主分类号: | G01M3/24 | 分类号: | G01M3/24 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 波速 修正 航天器 结构 泄漏 定位 方法 | ||
1.一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,包括以下步骤:
a.通过自动铅笔在被测板材中心位置进行断铅实验,测量各个方向的波速分布情况,建立波速-方向曲线;
b.根据波速-方向曲线,确定用于泄漏定位的传感器阵列参数;
c.在指定方向进行声源定向实验,并通过阵列进行定向,根据定向的误差,对波速-方向曲线进行修正;
d.搭建泄漏定位检测系统,用传感器阵列采集泄漏信号;
e.通过单个传感器阵列,使用基于各向异性材料波速-方向曲线的波束形成定向方法,对泄漏源进行定向;
f.通过两个传感器阵列,通过三角法对泄漏源进行最后定位。
2.根据权利要求1所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述a步骤中的波速测量的流程为:
断铅信号在制定位置产生时,定义被测板横向为0°方向,设为x轴正向;纵向为90°方向,设为y轴正向,在同一方向放置两个传感器,传感器的间距为30cm,每隔10°进行波速测量,测量结束后可获得波速数组V(θ):
为进一步提高精度,通过插值的方法对V(θ)进行拟合,可得波速与角度的函数:v=f(θ)。
3.根据权利要求2所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述b步骤中的传感器阵列参数计算方法为:
根据波速与角度的函数v=f(θ),以O点为基准点,每10°放置一个传感器,传感器与基准点的间距li(θi)与波速v(θi)的关系为:
对li(θi)进行拟合,可得阵元与基准点距离与角度的分布函数:l=h(θ),对每个阵列共铺设10个传感器,涵盖0°-90°方向。
4.根据权利要求3所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述c步骤中的波速修正流程为:
在指定方法产生泄漏声信号,使传感器阵列与其分别成角0°-90°时进行泄漏实验,每隔10°进行实验,并进行定向处理,获得对应的能量函数B(θ):
B(θ)=∫g4(t,θ)dt
根据能量函数可以推导得到对应的g(t,θ)函数,并能够推导出对应的延时Δt,根据延时公式,可以推导出对应的推导波速函数V’(θ),根据推导波速函数对波速-方向曲线进行修正补偿,得到修正后的波速-方向曲线v=f’(θ)。
5.根据权利要求4所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述d步骤的实验检测系统包括被测试复合材料结构、传感器夹具、阵列传感器、信号放大器、信号采集卡以及PC机,其中传感器夹具根据步骤b确定的传感器阵列参数通过3D打印进行设计制作。
6.根据权利要求5所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述d步骤中的泄漏信号采集流程为:
将传感器阵列通过耦合剂粘贴到被检结构表面,利用传感器阵列对泄漏信号进行采集,信号通过电压放大器进行放大,并通过采集设备进行采集,数据保存至PC。
7.根据权利要求6所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述e步骤中改进的波束形成方法流程为:
假设声源方向为θ,第n个传感器阵元信号的时延表示为:
其中,V(θ)为波速分布函数,dn为相对距离:
信号将通过延时叠加而集中能量,叠加后信号:
信号能量可以通过对叠加信号进行时域平方和积分得到,通过扫描所有角度,可得到一个关于角度的能量函数B(θ):
B(θ)=∫g4(t,θ)dt
B(θ)能量函数的峰值所对应的θ角度即为该阵列传感器所求泄漏定向结果。
8.根据权利要求7所述的一种基于波速修正的航天器复材结构泄漏定位方法,其特征在于,所述f步骤中改进的波束形成方法流程为:
当两个阵列传感器对泄漏源进行定位时,泄漏源与定向角度的关系为:
其中,(x1,y1)、(x2,y2)分别为传感器阵列1、2参考传感器的坐标,L为两个阵列传感器基准点距离,θ1、θ2分别为传感器阵列1、2的定向角度,(x,y)为定位泄漏源的坐标,求解公式可得泄漏源位置(x,y),完成泄漏定位。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所,未经北京卫星环境工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111448440.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种钢丝绳回倒包装方法
- 下一篇:坩埚组件和具有其的单晶生长装置