[发明专利]显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质

说明书

本发明揭示了一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。本发明提供的显示模组缺陷检测方法，通过先后执行特征匹配和边缘清晰度计算和标记，实现对显示模组表层和内层，以及多个内层之间的缺陷的分别检测和输出，如此降低漏检概率，便于后续检修。

技术领域

本发明涉及计算机视觉及目标检测技术领域，尤其涉及一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质。

背景技术

现有显示模组多采用三层贴合结构，主要包括CG(Cover Glass，玻璃盖板层)、TP(Touch Panel，触控层)以及LCM(Liquid Crystal Display Module，液晶显示层)，生产过程中，诸如灰尘、划痕、擦伤等的缺陷，往往会存在于三层贴合结构中的两两结合处，以及CG的表层处。现有技术中多采用表面光源打光，通过检测凹陷和突起不同的漫反射情况，从而区分不同缺陷并进行对应处理，但此种实施方式往往通过亮度作为评价参数，基于缺陷类型和CG、TP优秀的透过性，内在结构两两结合处的非突起异物难以反射形成区分亮度，如此会导致存在不良状况的显示模组发生漏检，同时也无法对缺陷在三层构造的显示模组中的具体位置进行区分，给后续维修处理造成了障碍。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种显示模组缺陷检测方法，以解决现有技术中显示模组的表层缺陷和多种内层缺陷混淆而导致漏检和后续处理困难的技术问题。

本发明的目的之一在于提供一种显示模组缺陷检测系统。

本发明的目的之一在于提供一种计算机可读存储介质。

为实现上述发明目的之一，本发明一实施方式提供一种显示模组缺陷检测方法，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述内层缺陷图像的像素灰度值，按照预设灰度阈值对所述像素灰度值进行分类，生成至少两类像素灰度集合；计算所述像素灰度集合的灰度子均值，以及所述像素灰度值的灰度总体均值，并以所述灰度子均值为变量计算灰度方差；分析得到并遍历所述内层缺陷图像的灰度级，求取使所述灰度方差最大的标准灰度级；根据所述标准灰度级对所述内层缺陷图像执行二值化分割，生成中间内层图像。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述中间内层图像中所有像素，计算得到所述所有像素的融合近似值；根据所述融合近似值，分析提取所有边缘像素；根据所述所有边缘像素，对所述中间内层图像进行分割，生成至少一个内层缺陷区。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：根据预设的离散差分算子，对所述中间内层图像中第一像素，在至少两个方向上做平面卷积，得到至少两个差分近似值；根据所述至少两个差分近似值，计算融合近似值；若所述融合近似值大于预设的标准梯度值，则判定所述第一像素为边缘像素。

作为本发明一实施方式的进一步改进，所述方法具体包括：遍历所述所有边缘像素，根据所述边缘像素，以及与所述边缘像素相邻的相邻像素的灰度值，计算得到所述内层缺陷区的所有边缘灰度评价值；叠加所有所述边缘灰度评价值，计算得到所述内层缺陷区的边缘清晰度值。