[发明专利]一种ATE设备DC校准有效性的检测方法

说明书

一种ATE设备DC校准有效性的检测装置及其检测方法，用于检测业务板卡各数字通道的DC校准有效性测试；该装置其包括多块数字板卡和环回互联模块；每块数字板卡包括上百个通道和一个板卡逻辑处理单元；环回互联模块包括线缆和与数字板卡对接的连接器，用于将每个数字板卡上的每两个相邻通道为一组进行环回互联以形成一条检测回路；板卡逻辑处理单元包括正向测试单元、反向测试单元和判断单元；正向测试单元奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历，反向测试单元对偶数通道的校准有效性遍历，判断单元根据校准有效性检测标准和所有校准有效性遍历的结果，判断全部通道的DC校准情况；因此，本发明可以使用户提供更为便捷的ATE设备DC校准有效性的检测功能。

技术领域

本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称 ATE)领域，尤其涉及一种ATE设备DC校准有效性的检测方法。

背景技术

通常情况下，集成电路测试公司在进行规模测试前，需对业务板卡进行 DC校准，但是对于DC校准的效果往往需要较多的时间去确认。此时需要 向供应商请求协助，执行内部命令以查看DC校准情况。

然而，这些程序往往不对外开放，使得检测结果不够直观，亦或是检测 对象无法定制化，一次检测往往把与目标板卡或目标通道无关的检测项也一 并进行检测，加大了检测时间。

另一种情形是，集成电路公司在进行规模测试的过程中，若出现某些DC 校准测试项失败的情况，往往需要技术人员现场开发应用工程，并配合较为 昂贵的仪表进行排查验证，无法解决的话还需要供应商人员入驻厂家进行现 场排查，缺乏一种快速有效判断通道DC校准情况的方法。也就是说，当前 提供的DC校准有效性的检测方法，无论从时间成本还是经济成本来看，都 不太合算。

具体地，在检测DC校准有效性的过程中可能存在问题有如下几个方面：

①.检测方法不够灵活。

②.人员投入大，且对从业人员技术要求较高，需要具备相当程度的 应用工程研发能力。

③.若外请供应商工程师进行现场检测，费用不菲。尤其在厂商和供 应商处于不同城市的情况下，检测周期还会加大。

④.集成电路行业使用的第三方设备常常较为昂贵，动辄数万甚至数 十万人民币，对于常规性的检测工作，这显然不是最优的办法。

⑤.由于DC校准本身耗时较长，所以厂商无法随意进行重校准。对于 是否需要重校准，缺乏一种快速有效的预判方式。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种本发明ATE设备DC校准有效性的检测方 法，使用户提供更为便捷的ATE设备DC校准有效性的检测功能。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种ATE设备DC校准有效性的检测装置，用于检测业务板卡各数字通 道的DC校准有效性测试；其包括：

多块数字板卡，每块数字板卡包括M个通道(CH1、CH2…CHM)和 一个板卡逻辑处理单元；其中，所述数字板卡已进行了DC校准，所述通道 (CH1、CH2…CHM)初步具备对芯片管脚驱动电流与电压的能力和与之对 应的精确测量能力，所述M为偶数；

环回互联模块，其包括线缆和与所述数字板卡对接的连接器，用于将每 一个所述数字板卡上的每两个相邻通道为一组进行环回互联以形成一条检测 回路，其中，所述数字板卡的奇数通道包括第一接口，所述数字板卡的偶数 通道包括第二接口，所述第一接口和第二接口通过线缆和所述连接器连接在 一起，以形成M/2条所述检测回路；