[发明专利]一种无侧限抗压强度的试样表面状态测定装置在审

专利信息
申请号: 202111439897.4 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114018694A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 孟广利 申请(专利权)人: 中国路桥工程有限责任公司
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01D21/02
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 焦海峰
地址: 100011 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 无侧限 抗压强度 试样 表面 状态 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种无侧限抗压强度的试样表面状态测定装置,包括轴向压应变和轴向位移的动作检测单元(1),位于动作检测单元(1)下方并承载试样的试块承载台(2),以及安装在所述试块承载台(2)底部用于驱动所述试块承载台(2)上、下移动的升降机构(3),其特征在于,所述试块承载台(2)上设置有径向跟随组件(4),所述径向跟随组件(4)内形成有试样腔(5),所述径向跟随组件(4)的内壁与试样的周向表面接触连接,所述径向跟随组件(4)用于在试样产生轴向应变时扩大所述试样腔(5)的直径,所述径向跟随组件(4)的内壁上设置有表面状态采集单元(6),所述表面状态采集单元(6)用于采集试样产生轴向应变时的表面状态数据,并产生所述径向跟随组件(4)扩大所述试样腔(5)的直径的控制信号;所述表面状态采集单元(6)包括薄膜压敏传感器。

2.根据权利要求1所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述径向跟随组件(4)包括外柱腔体(41),以及套装在所述外柱腔体(41)内的柱曲面体(42),所述柱曲面体(42)的内部形成所述试样腔(5);

所述柱曲面体(42)包括多个弧面柱体单元(43),多个所述弧面柱单元(43)环形顺次连接,且相邻两个所述弧面柱体单元(43)的侧边通过弹性节(44)进行连接,所述弧面柱体单元(43)朝向试样的表面安装所述表面状态采集单元(6),所述弧面柱体单元(43)内部设置有密封腔(45),以及连接所述密封腔(45)的气源提供单元。

3.根据权利要求2所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述密封腔(45)沿柱曲面体(42)的径向阵列有多个隔板(46),相邻两个所述隔板(46)之间形成独立腔体(47),每个所述独立腔体(47)的顶部和底部均密封连接有扁平管,所述气源提供单元通过管道连接所述扁平管,且管道和所述扁平管一一对应。

4.根据权利要求3所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,相邻的两个隔板(46)的沿长度方向的侧边和两个所述隔板(46)的中间均通过折叠条(48)连接。

5.根据权利要求4所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述动作检测单元(1)包括对试样施加轴向力的力矩传动杆(101),所述力矩传动杆(101)的下端连接有承压板(102),位于所述力矩传动杆(101)的上方设置有量力环(103),所述量力环(103)中间设置有用于检测所述量力环(103)发生形变的第一数字百分表(104),且所述力矩传动杆(101)、所述量力环(103)以及所述外柱腔体(41)的轴线保持一致。

6.根据权利要求5所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述外柱腔体(41)的顶部设置有固定环(7),且所述固定环(7)的直径大于所述外柱腔体(41)的直径,所述外柱腔体(41)的底部通过弹动件(8)安装在所述试块承载台(2)上;

所述承压板(102)上环形阵列有多个微距检测装置(106),且所述微距检测装置(106)与所述固定环(7)接触连接;

所述微距检测装置(106)用于检测所述固定环(7)边缘的高度变化信号。

7.根据权利要求1所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述试块承载台(2)上设置有安装所述外柱腔体(41)的凹环槽(107),所述外柱腔体(41)的底部通过所述弹动件(8)安装在所述凹环槽(107)内,且所述凹环槽(107)的宽度大于所述外柱腔体(41)的宽度。

8.根据权利要求6所述的一种无侧限抗压强度的样表面状态测定装置,其特征在于,所述承压板(102)中间设置有传动栓(9),所述传动栓(9)包括第一柱体(91)和第二柱体(92),且所述第一柱体(91)的直径小于所述第二柱体(92)的直径,所述第一柱体(91)贯穿所述承压板(102)的顶部与所述力矩传动杆(101)连接,所述第二柱体(92)的底部表面设置有安装试样的套装槽(93)。

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