[发明专利]JTAG转接电路板

说明书

一种JTAG转接电路板，通过在联合测试工作群组插槽设计有防呆机制，借以提供联合测试工作群组插槽中的各信号脚位的位置固定，在实现连接接口转换时可省略对信号脚位定义核实以提高信号传输效率，借此可以达成提高联合测试工作群组接口转换信号传输效率的技术效果。

技术领域

一种转接电路板，尤其是指一种联合测试工作群组接口转换时可省略对信号脚位定义核实以提高信号传输效率的JTAG转接电路板。

背景技术

现有的连接接口转接电路板提供不同连接接口的转换，在通过连接接口转接电路板进行不同连接接口的转换时，会因为不同连接接口对于脚位定义的不同，而需要进行信号脚位定义的核实，进行信号脚位定义的核实则会影响现场连接效率，除此之外，原连接接口无匹配电路也会影响到信号传输的效率。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有转换电路板因需要进行信号脚位定义核实影响现场连接效率且原连接接口无匹配电路也会影响到信号传输效率的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有转换电路板因需要进行信号脚位定义核实影响现场连接效率且原连接接口无匹配电路也会影响到信号传输效率的问题，本发明遂公开一种JTAG转接电路板，其中：

本发明所公开的JTAG转接电路板，其包含：具有C类型通用序列汇流排(UniversalSerial Bus，USB Type-C)插槽以及联合测试工作群组(Joint Test Action Group，JTAG)插槽的JTAG转接电路板。

JTAG转接电路板的C类型通用序列汇流排插槽包含有上排脚位组以及下排脚位组，上排脚位组中具有上排测试资料输入(Test Data In，TDI)脚位、上排测试资料输出(Test Data Out，TDO)脚位、上排测试时钟(Test Clock，TCK)脚位、上排测试模式选择(Test Mode Select，TMS)脚位、多个上排接地(Ground，GND)脚位，下排脚位组中具有下排测试资料输入脚位、下排测试资料输出脚位、下排测试时钟脚位、下排测试模式选择脚位以及多个下排接地脚位。

JTAG转接电路板的联合测试工作群组(Joint Test Action Group，JTAG)插槽，联合测试工作群组插槽具有左右两侧的卡扣固定部件、防呆空槽以及十个脚位，脚位呈现上下两排且每一排具有五个脚位，脚位中的测试时钟脚位、测试模式选择脚位、测试资料输入脚位、测试资料输出脚位以及接地脚位为固定的脚位位置。

其中，测试时钟脚位分别与上排测试时钟脚位以及下排测试时钟脚位形成电性连接，测试模式选择脚位分别与上排测试模式选择脚位以及下排测试模式选择脚位形成电性连接，测试资料输入脚位分别与上排测试资料输入脚位以及下排测试资料输入脚位形成电性连接，以及测试资料输出脚位分别与上排测试资料输出脚位以及下排测试资料输出脚位形成电性连接，接地脚位分别与上排接地脚位以及下排接地脚位形成电性连接。

本发明所公开的电路板如上，与现有技术之间的差异在于通过在联合测试工作群组插槽设计有防呆机制，借以提供联合测试工作群组插槽中的各信号脚位的位置固定，在实现联合测试工作群组接口转换时可省略对信号脚位定义核实以提高信号传输效率。

通过上述的技术手段，本发明可以达成提高联合测试工作群组接口转换信号传输效率的技术效果。

附图说明

图1示出了本发明JTAG转接电路板的电路板方块图。

图2示出了本发明JTAG转接电路板的C类型通用序列汇流排插槽脚位示意图。

图3示出了本发明JTAG转接电路板的联合测试工作群组插槽脚位示意图。

其中，附图标记：

10 JTAG转接电路板

11 C类型通用序列汇流排插槽