[发明专利]接触力检测方法及装置、计算机可读存储介质、终端设备

权利要求书

1.一种接触力检测方法，其特征在于，包括：

获取N个传感器的信号变化量，所述N个传感器对称地设置于应变部的两侧面，所述应变部在受电弓与接触网之间的接触力的作用下发生应变，N为大于等于2的偶数；

至少利用所述N个传感器的信号变化量的差值计算所述接触力。

2.根据权利要求1所述的接触力检测方法，其特征在于，所述信号变化量包括传感器在受力时由弯矩变化产生的变化分量、由应力变化产生的变化分量以及由温度变化产生的变化分量，所述差值包括弯矩变化产生的变化分量的差值。

3.根据权利要求1所述的接触力检测方法，其特征在于，所述传感器为光学传感器，所述信号变化量为波长变化量。

4.根据权利要求1所述的接触力检测方法，其特征在于，所述至少利用所述N个传感器的信号变化量的差值计算所述接触力包括：

计算每个第一传感器与对称设置的第二传感器的第一差值，所述第一传感器位于所述应变部的第一侧面，所述第二传感器位于所述应变部的第二侧面；

计算N/2个第一差值的总和，并利用所述总和计算平均值，以作为第二差值；

至少利用所述第二差值计算所述接触力。

5.根据权利要求1所述的接触力检测方法，其特征在于，所述至少利用所述N个传感器的信号变化量的差值计算所述接触力包括：

确定传感器的弯矩力学系数或所述应变部的力学系数，所述弯矩力学系数或所述力学系数是在所述N个传感器标定时确定的；

计算所述差值与所述弯矩力学系数的乘积，或者所述差值与所述力学系数的乘积，以得到所述接触力。

6.根据权利要求1至5任一项所述的接触力检测方法，其特征在于，所述传感器为光学应变片、电阻应变片或者光纤光栅。

7.根据权利要求1至5任一项所述的接触力检测方法，其特征在于，每一传感器包括一对光学应变片和温度补偿片，或者一对电阻应变片和温度补偿片，或者一对光纤光栅和温度补偿片。

8.一种接触力检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取N个传感器的信号变化量，所述N个传感器对称地设置于应变部的两侧面，所述应变部在受电弓与接触网之间的接触力的作用下发生应变，N为大于等于2的偶数；

计算模块，用于至少利用所述N个传感器的信号变化量的差值计算所述接触力。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1至7中任一项所述接触力检测方法的步骤。

10.一种终端设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至7中任一项所述接触力检测方法的步骤。