[发明专利]微机电陀螺仪和补偿微机电陀螺仪中的输出热漂移的方法在审
申请号: | 202111424200.6 | 申请日: | 2021-11-26 |
公开(公告)号: | CN114563013A | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | L·奎利诺尼;L·G·法罗尼 | 申请(专利权)人: | 意法半导体股份有限公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 黄海鸣 |
地址: | 意大利阿格*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 微机 陀螺仪 补偿 中的 输出 漂移 方法 | ||
1.一种微机电陀螺仪,包括:
支撑结构;
感测质量块,其以沿驱动方向以及感测方向的自由度耦合到所述支撑结构,所述驱动方向与所述感测方向彼此垂直;
校准结构,其面向所述感测质量块、并且通过具有平均宽度的间隙与所述感测质量块间隔开,所述校准结构相对于所述感测质量块可移动,使得所述校准结构的位移引起所述间隙的所述平均宽度的变化;以及
校准致动器,其被配置为控制所述校准结构相对于所述感测质量块的相对位置和所述间隙的所述平均宽度。
2.根据权利要求1所述的陀螺仪,其中所述校准致动器包括:校准电极,所述校准电极被布置在所述支撑结构上并且被电容耦合到所述校准结构;以及偏置源,耦合到所述校准电极。
3.根据权利要求2所述的陀螺仪,其中:
所述驱动方向平行于所述支撑结构的面,并且所述感测方向垂直于所述面并且垂直于所述驱动方向;并且
所述校准结构被连接到固定到所述支撑结构的支点部,并且所述校准结构围绕平行于所述面且垂直于所述驱动方向和所述感测方向二者的支点轴线旋转。
4.根据权利要求3所述的陀螺仪,其中:
所述校准结构包括校准板,所述校准板被耦合到所述支点部、并且具有关于所述支点部对置的第一部分和第二部分;并且
所述第一部分在所述感测质量块与所述支撑结构相对的一侧上面向所述感测质量块,并且通过所述间隙与所述感测质量块间隔开。
5.根据权利要求4所述的陀螺仪,其中所述校准结构包括:耦合质量块,所述耦合质量块被刚性接合到所述校准板的所述第二部分并且被电容耦合到所述校准电极。
6.根据权利要求3所述的陀螺仪,包括:至少一个感测电极,所述至少一个感测电极被布置在所述支撑结构的所述面上、并且面向所述感测质量块并且被电容耦合到所述感测质量块,以及其中所述感测质量块沿着所述感测方向被布置在所述感测电极与所述校准结构之间。
7.根据权利要求2所述的陀螺仪,其中所述驱动方向和所述感测方向二者均平行于所述支撑结构的面。
8.根据权利要求7所述的陀螺仪,其中所述校准结构具有第一侧,所述第一侧面向所述感测质量块的一侧并且通过所述间隙与所述感测质量块分离,并且其中所述校准电极面向所述校准结构的第二侧,所述第二侧与所述第一侧相对。
9.根据权利要求7所述的陀螺仪,其中所述校准结构沿所述感测方向相对于所述感测质量块可移动。
10.根据权利要求7所述的陀螺仪,包括:至少一个感测电极,所述至少一个感测电极固定到所述支撑结构,并且其中所述感测质量块是框架状的,并且所述感测电极被电容耦合到所述感测质量块的相应侧。
11.根据权利要求10所述的陀螺仪,其中所述感测电极被布置在所述感测质量块内部。
12.根据权利要求7所述的陀螺仪,包括:驱动质量块,所述驱动质量块沿所述驱动方向相对于所述支撑结构可移动,并且其中所述感测质量块受限于所述驱动质量块,以在所述驱动方向上由所述驱动质量块拖动并且沿着所述感测方向相对于所述驱动质量块可移动。
13.根据权利要求1所述的陀螺仪,包括:盖体,所述盖体以气密方式接合到所述支撑结构,以在所述盖体与所述支撑结构之间形成气密闭合的室,并且其中所述感测质量块和所述校准结构被容纳在所述室内。
14.一种方法,包括:
补偿微机电陀螺仪中的输出热漂移,
包括:
将所述微机电陀螺仪的校准结构布置为面向所述感测质量块并且通过具有平均宽度的间隙与所述感测质量块间隔开;
移动所述校准结构来改变所述间隙的所述平均宽度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于意法半导体股份有限公司,未经意法半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111424200.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。