[发明专利]喉衬内型面退移量、碳化层厚度的测量装置及方法在审
申请号: | 202111423429.8 | 申请日: | 2021-11-26 |
公开(公告)号: | CN114199135A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 郑健;蔡成 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B7/06 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 马鲁晋 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 喉衬内型面退移量 碳化 厚度 测量 装置 方法 | ||
1.喉衬内型面退移量、碳化层厚度的测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:
碳连接杆(9)以及碳纤维薄壳套筒(7);
所述碳连接杆(9)设置于所述待测量的喷管喉衬(8)的中心位置;
所述碳连接杆(9)的中心位置设置有多个长度不一的圆柱孔;
所述碳连接杆(9)的外部依次设置所述碳纤维薄壳套筒(7)。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述圆柱孔按照长度呈阶梯状分布。
3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述碳纤维薄壳套筒(7)包括三层薄壳套筒,每两层薄壳套筒之间缠绕有卡马镍铬电阻丝(6),分别为内圈卡马镍铬电阻丝以及外圈卡马镍铬电阻丝。
4.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述碳连接杆(9)内部设置有光纤(5);所述光纤(5)穿过紧固螺钉(1)中心孔,缝隙中填充有填充剂;
所述光纤(5)外接光电二极管(4)。
5.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,两层卡马镍铬电阻丝(6)分别连接测量导线;
所述测量导线与第一外接检测电路连接;
所述第一外接检测电路设置有恒流电源(10)以及电压表(11)。
6.喉衬内型面退移量的测量方法,其特征在于,所述喉衬内型面退移量的测量方法包括:
获取多个圆柱孔分别对应的内型面退移量;
依次按照从长到短的顺序将所述圆柱孔接至外接输出电路上,直至出现电信号,将出现电信号的目标圆柱孔对应的内型面退移量作为目标内型面退移量。
7.碳化层厚度的测量方法,其特征在于,所述碳化层厚度的测量方法应用于权利要求1至5所述的测量装置中,所述方法包括:
获取所述测量装置的碳化参数;所述碳化参数包括内圈卡马镍铬电阻丝缠绕直径、外圈卡马镍铬电阻丝缠绕直径、电阻丝绕组节距、卡马镍铬合金电阻丝直径、电阻率以及初始电阻;
根据电压表显示的电压数据以及恒流电源显示的电流数据,确定测量电阻;
根据测量电阻以及碳化参数确定碳化层厚度。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述碳化层厚度通过以下方法确定:
式中,Δd是所述碳化层厚度;D为内圈卡马镍铬电阻丝缠绕直径;D1为外圈卡马镍铬电阻丝缠绕直径;l为电阻丝绕组节距、d为卡马镍铬合金电阻丝直径、ρ为电阻率、R0为初始电阻。
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