[发明专利]封接强度测试样品、测试装置以及测试方法

说明书

本申请提供一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法，涉及电子行业用封接技术领域。其中，封接强度测试样品包括第一试条和第二试条；所述第一试条与所述第二试条交叠设置，所述第一试条与所述第二试条呈预设夹角，所述第一试条与所述第二试条通过在交叠处夹设金属封接层连接；其中，所述第一试条为金属材料或陶瓷材料，所述第二试条为金属材料或陶瓷材料，所述封接强度测试样品用于放置在封接强度测试装置的凹槽中进行封接强度测试。本申请技术方案封接强度测试样品交叠设置并呈预设角度，可以实现封接件的拉伸强度测试和剪切强度测试的全场景应用，规避了现有的测试样品难以控制封接件在同一轴度的问题，进而可有效保证封接强度测试精度。

技术领域

本申请涉及电子行业用封接技术领域，尤其涉及一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法。

背景技术

电连接器件和电真空器件等封接产品在航空航天、武器装备、船舶核能、新能源及高铁等领域得到了广泛应用，封接强度是影响其作用可靠性的关键薄弱环节。

现有技术中，在进行封接强度测试时，由于测试样品为圆筒形状，在测试过程中难以控制测试样品的中心位置，可能导致偏心，使得拉伸受力不在同一个轴上，导致测试误差较高，影响封接强度测试的可靠性，现有的测试样品只能进行封接件的拉伸强度测试，无法进行封接件的剪切强度测试。

为此，针对上述的技术问题还需进一步解决。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法，规避了现有的测试样品难以控制封接件在同一轴度的问题，进而可有效保证封接强度测试的精度。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供如下技术方案：

本申请第一方面提供一种封接强度测试样品，包括：

第一试条和第二试条；所述第一试条与所述第二试条交叠设置，所述第一试条与所述第二试条呈预设夹角，所述第一试条与所述第二试条通过在交叠处夹设金属封接层连接；

其中，所述第一试条为金属材料或陶瓷材料，所述第二试条为金属材料或陶瓷材料，所述封接强度测试样品用于放置在封接强度测试装置的凹槽中进行封接强度测试。

可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述第一试条长度方向的中间位置与所述第二试条长度方向的中间位置交叠。

可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述第一试条的宽度、厚度和长度与所述第二试条的宽度、厚度和长度均相同，所述第一试条的宽度与厚度相同，所述第二试条的宽度与厚度相同，所述第一试条和所述第二试条的长度均是宽度的3～5倍；所述第一试条与所述第二试条之间的所述预设夹角为89.5°～90.5°。

可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述金属封接层为矩形结构，所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条宽度宽0-0.5mm，或所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条的宽度窄。

本申请第二方面提供一种封接强度测试装置，包括：

支撑基座，支撑基座，所述支撑基座设置有凹槽，所述凹槽包括第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和所述第二凹槽交叉连通并呈预设夹角，所述第一凹槽用于放置第一试条，所述第二凹槽用于放置第二试条；

其中，所述第二凹槽的深度比所述第一凹槽的深度深，所述第一凹槽与所述第二凹槽之间的预设夹角和所述第一试条与第二试条之间的预设夹角相同。

可选地，前述的封接强度测试装置，其中所述第一凹槽的宽度比所述第一试条的宽度宽0mm～0.5mm，所述第一凹槽的深度比所述第一试条的厚度深0mm～10mm；所述第二凹槽的宽度比所述第二试条的宽度宽0mm～0.5mm，所述第二凹槽贯穿所述支撑基座。

可选地，前述的封接强度测试样品，其还包括：