[发明专利]一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备在审
申请号: | 202111405026.0 | 申请日: | 2021-11-24 |
公开(公告)号: | CN114047200A | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 白羽;徐拓 | 申请(专利权)人: | 北京中创科仪科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;G01N21/88;B07C5/02;B07C5/10;B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 11947 | 代理人: | 李冲 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高速 自动识别 剔除 颗粒 物中异色 杂质 设备 | ||
本发明公开了一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备,包括料斗、物料输送装置、线扫描相机、颗粒物、光源、背景板、异色杂质剔除装置、主料箱、瑕疵料箱、中央处理器,所述料斗的出口位于物料输送装置正上方,所述物料输送装置下方设有两组线扫描相机,两组所述线扫描相机对称设置,所述线扫描相机下方设有异色杂质剔除装置,所述异色杂质剔除装置下方设有主料箱及瑕疵料箱,所述线扫描相机输出端连接中央处理器输入端,所述中央处理器输出端连接异色杂质剔除装置输入端。
技术领域
本发明涉及一种设备,具体是指一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备。
背景技术
随着下游厂家对原材料品质的要求越来越高,如化工行业对原料中杂质、污染物比例要求越来越苛刻,前期对这一指标都是通过人工方式进行检验计数,人工方式检测具有耗时长、不同的人或同一人在不同时间对杂质计数的偏差较大,200微米以下杂质极其容易漏检,后续有了面阵相机单面拍照检测,提高了200微米以下小杂质的识别率,但是该面阵相机拍照检测结构上配置单摄像机,粒子背面的杂质会漏检。并且因目前技术瓶颈面阵摄像机拍照频率不超过30hz,检测速度慢。并且面阵相机拍摄的连续照片无法确保运动的被测物毫无遗漏或毫无重复的拍摄,也就无法保证检测准确率。本发明通过一对对摄的线扫描摄像机拍摄自由下落的颗粒物,颗粒物起始下落点和被拍摄点不变的情况下,所有颗粒物会相同速度通过线扫描摄像机,线扫描相机扫描速度高达70MHz,通过计算颗粒物的下落速度匹配线扫描相机扫描频率,可以实现不重复不遗漏的高速检测。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服上述技术的缺陷,提供一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备。
为解决上述技术问题,本发明提供的技术方案为一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备,包括料斗、物料输送装置、线扫描相机、颗粒物、光源、背景板、异色杂质剔除装置、主料箱、瑕疵料箱、中央处理器,所述料斗的出口位于物料输送装置正上方,所述物料输送装置下方设有两组线扫描相机,两组所述线扫描相机对称设置,所述线扫描相机下方设有异色杂质剔除装置,所述异色杂质剔除装置下方设有主料箱及瑕疵料箱,所述线扫描相机输出端连接中央处理器输入端,所述中央处理器输出端连接异色杂质剔除装置输入端。
作为改进,所述料斗用于储放颗粒物。
作为改进,两组所述线扫描相机分别设有光源及背景板。
作为改进,所述主料箱用于储放正常颗粒物,所述瑕疵料箱用于储放异色杂质。
作为改进,所述物料输送装置为振动式输送装置。
作为改进,所述异色杂质剔除装置为喷气式剔除装置,所述异色杂质剔除装置设有不少于三个喷气口,所述喷气口呈同一水平面设置,且喷气口出气方向朝向颗粒物下落通道。
作为改进,所述中央处理器包括IO模块,所述IO模块用于控制物料输送装置的输送功率及光源的亮度。
本发明与现有技术相比的优点在于:本发明结构设计合理,采用对称设置的两组线扫描相机可以对粒子正反面同时检测,确保整个粒子的表面都被检测到,避免遗漏,并且每个粒子的图片都是唯一的,不会有同一目标重复的图片,从原理上避免了同一缺陷重复计数的可能,所述中央处理器对图片中每个像素点R、G、B值进行分析并与预设的检测方法中的R、G、B范围进行比对,识别出缺陷边界,并对缺陷的大小、形状、颜色进行计算和分类,同时向异色杂质剔除装置输出指令,根据异色杂质坐标进行准确剔除,使得本发明能够高效、准确的对颗粒状物料中的杂质进行检测,并能根据杂质的尺寸、颜色、形状信息对杂质进行分类统计。
附图说明
图1是本发明一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备的结构示意图;
图2是本发明一种高速自动识别及剔除颗粒物中异色杂质的设备的原理及流程示意图。
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