[发明专利]一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统

说明书

本发明提供一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统。该方法包括以下步骤：根据采集到的已知无缺陷液晶屏幕的图像计算图像的角点信息；根据所述角点信息计算非缺陷角点位置的统计特性；根据所述非缺陷角点位置的统计特性，利用最近邻算法计算待检测屏幕的缺陷位置。完成对液晶屏幕的缺陷检测。本发明基于视觉图像处理技术，通过最近邻算法实现对液晶屏幕的缺陷检测，精度高，速度快，鲁棒性好。

技术领域

本发明涉及计算机视觉检测技术领域，尤其涉及一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统。

背景技术

计算机视觉技术具有非接触性，经济性，灵活性和集成性等优点，在工业测试与在线检测领域具有广泛的应用前景。在目前液晶面板行业对液晶面板的缺陷检测是质量把控不可或缺的关键步骤之一。

现已有与本发明最相近似的解决方案是一种液晶屏幕缺陷视觉检测方法及装置，通过计算模板图像与待检测图像的灰度值匹配度来进行缺陷检测。例如，中国发明专利申请号CN201410546795.6涉及一种液晶屏幕缺陷视觉检测方法及装置, 根据待测样品按键排布情况,调整矩阵电磁开关按钮盘按钮位置,使其与待测样品按键排布相吻合；离线采集各个按钮所对应的模板图像,并进行编号存储；根据所述各种组合工作状态,控制矩阵电磁开关按钮盘按钮按下待测样品的相应按键；实时采集待测样品每个按键按下时所对应的液晶屏幕图像,并分别选取一帧图像进行预处理；对预处理后的图像与模板图像进行模板匹配计算,得到缺陷视觉检测结果。

上述现有技术的主要缺点是在硬件系统设计复杂，精度不高，对不同屏幕制程上的差异要求高，成本高等问题。

发明内容

为解决以上问题，针对硬件系统设计复杂，精度不高这个缺点，本发明通过对液晶屏幕进行取图，利用视觉图像处理技术，通过计算非缺陷区域的统计特性，利用最近邻算法的思想，实现了液晶屏幕缺陷的检测。

具体的，本发明提供了一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法，包括以下步骤：

根据采集到的已知无缺陷液晶屏幕的图像计算图像的角点信息；

根据所述角点信息计算非缺陷角点位置的统计特性；

根据所述非缺陷角点位置的统计特性，利用最近邻算法计算待检测屏幕的缺陷位置。

基于上述目的，本发明还提出了一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测系统，包括：

角点计算模块，用于根据采集到的已知无缺陷液晶屏幕的图像计算图像的角点信息；

非缺陷统计特性模块，用于根据所述角点信息计算非缺陷角点位置的统计特性；

缺陷位置计算模块，用于根据所述非缺陷角点位置的统计特性，利用最近邻算法计算待检测屏幕的缺陷位置。

本发明的有益效果是通过对液晶屏幕进行拍照取图，利用视觉图像处理技术，通过查找角点的统计特性到特性表中的最近距离，实现了基于统计特性最近邻思想的缺陷检测方法。在液晶检测行业有着极大的应用价值。精度高，速度快，鲁棒性好。

附图说明

在附图中，除非另外规定，否则贯穿多个附图相同的附图标记表示相同或相似的部件或元素。这些附图不一定是按照比例绘制的。应该理解，这些附图仅描绘了根据本发明公开的一些实施方式，而不应将其视为是对本发明范围的限制。

图1示出根据本发明实施例的基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法的流程图。

图2为本发明的统计特性表构建的实现过程图；

图3为本发明的示例效果图；

图4示出根据本发明实施例的基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测系统的构成图。