[发明专利]一种光轴检测系统导光装置装校方法

说明书

本申请公开了一种光轴检测系统导光装置装校方法。包括以下步骤：将第一平行光管与第二平行光管相对放置；利用第二平行光管的分划板接收第一平行光管发出的平行光线；调整第二平行光管，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间；利用导光装置反射第一平行光管发出的平行光线至第二平行光管的分划板上；调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；紧固调整后的导光装置。本申请利用第一平行光管与第二平行光管调整导光装置的两反射面，使得导光装置的两反射面具备较高的平行度；实现调整导光装置的两反射面平行度的目的，满足测试需求。

技术领域

本公开一般涉及光学系统多反射镜装校技术领域，具体涉及一种光轴检测系统导光装置装校方法。

背景技术

多波段观测设备必须配备可进行装配车间和现场测试的光轴检测系统，以确保观测设备的搜索、跟踪、瞄准、测距、指示和指向等多种功能技战性能准确、稳定和可靠。光轴检测系统导光装置，主要用于在测试时，被检测设备光轴跨度超过平行光管的有效光学口径时，不能同时包含被测光轴的情况。

目前，通常使用的导光装置含有两个相互平行的反射镜，受限于现有的装校工艺，无法保证两反射镜的平行度。因此，我们提出一种光轴检测系统导管装置装校方法，用以解决上述的难以调整两反射镜的平行度的问题。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种便于调整两反射镜平行度，满足测试需求，操作简单且易于实现的光轴检测系统导光装置装校方法。

第一方面，本申请提供一种光轴检测系统导光装置装校方法，包括以下步骤：

将第一平行光管与第二平行光管相对放置；

利用第二平行光管的分划板接收第一平行光管发出的平行光线；

调整第二平行光管，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；

将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间；

利用导光装置反射第一平行光管发出的平行光线至第二平行光管的分划板上；

调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合；

紧固调整后的导光装置。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述导光装置具备第一反射面与第二反射面。

根据本申请实施例提供的技术方案，根据以下方法将第一平行光管发出的平行光线传递至第二平行光管的分划板上：

利用第一反射面接收第一平行光管发出的平行光线，并发出第一反射光线；

利用第二反射面接收第一反射光线，并发出第二反射光线，传递至第二平行光管的分划板上。

根据本申请实施例提供的技术方案，根据以下方法调整导光装置，直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合：

调整导光装置的第一反射面，至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述分划板为十字叉丝。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一平行光管发出的平行光线为十字丝信号，所述十字丝信号可显示在所述第二平行光管的分划板上。