[发明专利]调试信息存取方法及其电子设备

说明书

本申请公开了一种调试信息存取方法及其电子设备。调试信息存取方法包括：开启主控芯片内部的调试信息引擎模块，以采集调试信息引擎模块相连接的调试接口所输出的有效波形信号，并转化为调试波形数据；当触发条件满足时将调试波形数据存储到主控芯片外接的非易失性存储器，并于存储一定量的调试波形数据后停止采集有效波形信号；及接收来自主机的读取命令后，读取非易失性存储器所存储的调试波形数据，并将读取的调试波形数据发送给主机。因此，解决主控芯片没有预留与外部逻辑分析仪连接的调试接口，而存在无法分析主控芯片内部的信号进行排错的问题。

技术领域

本申请涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种芯片内建调试信息存取方法及其电子设备。

背景技术

现有技术中，当开发的集成电路工作出现错误(bug)时，通常使用逻辑分析仪连接所述集成电路的调试接口抓取内部信号的波形，并进行数据分析，以排除错误的发生。

随着科技不断进步，电子设备也日渐朝小型化趋势发展，使得电子设备的主控芯片的面积设计也随之缩小(主控芯片的接脚(PIN)数目也因而被受限而减少)，而存在没有预留可外接逻辑分析仪的调试接口或接脚的情况，或是由于线路布局因素，使得主控芯片内的多个信号测试点的信号无法顺利连接至芯片的接脚，造成在主控芯片的内部电路工作出现错误时，无法使用逻辑分析仪通过所述调试接口抓取内部信号的波形进行分析与排错的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种调试信息存取方法及其电子设备，可解决现有技术中，电子设备的主控芯片因面积缩小，存在没有预留可外接逻辑分析仪的调试接口的情况，造成在主控芯片的内部电路工作出现错误时，无法使用逻辑分析仪通过所述调试接口抓取内部信号的波形进行分析与排错的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

本申请提供了一种调试信息存取方法，应用于主控芯片。所述调试信息存取方法包括以下步骤：开启主控芯片内部的调试信息引擎模块，以采集调试信息引擎模块相连接的调试接口所输出的有效波形信号，并转化为调试波形数据；当触发条件满足时，将调试波形数据存储到主控芯片外接的非易失性存储器，并于存储一定量的调试波形数据后停止采集有效波形信号；以及接收来自主机的读取命令后，读取非易失性存储器所存储的调试波形数据，并将读取的调试波形数据发送给主机。

本申请提供了一种电子设备，其包括：主控芯片和非易失性存储器，非易失性存储器和主控芯片连接。主控芯片包括：微处理器、调试信息引擎模块和连接接口模块。调试信息引擎模块用于被微处理器开启后采集主控芯片内的有效波形信号，并转化为调试波形数据；及当触发条件满足时,将所转化的调试波形数据存储至非易失性存储器。连接接口模块用于与外部的主机连接。其中，主控芯片接收来自主机的读取命令后，读取非易失性存储器所存储的调试波形数据，并将读取的调试波形数据发送给主机。

在本申请实施例中，通过将调试信息引擎模块配置于主控芯片内部，使得主控芯片可因应市场发展需求不需要预留可外接逻辑分析仪的调试接口；通过调试信息引擎模块的配置、触发条件的设置和主控芯片外接非易失性存储器的配置，使得在主控芯片的内部电路工作出现错误时，发生错误前后的调试波形数据可存储在非易失性存储器中，主机通过主控芯片即可读取内部电路工作出现错误前后的调试波形数据，取代现有技术通过主控芯片外接逻辑分析仪抓取其内部电路的调试接口的信号波形进行分析的技术方案。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为依据本申请的电子设备与主机相连接的一实施例框图；

图2为依据本申请的电子设备与主机相连接的另一实施例框图；

图3为依据本申请的调试信息引擎模块与相连接的调试接口的一实施例连接示意图；