[发明专利]一种沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111365408.5 申请日: 2021-11-18
公开(公告)号: CN113808940A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 胡兴正;钱康;何军;薛璐;刘海波 申请(专利权)人: 南京华瑞微集成电路有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/861;H01L29/872;H01L29/06
代理公司: 南京瑞华腾知识产权代理事务所(普通合伙) 32368 代理人: 钱丽
地址: 210000 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 沟槽 侧壁 集成 sbd 结构 frd 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,包括:

提供N型衬底,并在所述衬底上侧依次制作缓冲层和外延层;

在所述外延层内由内向外依次制作P阱、若干呈间隔设置的P环和N截止环;

在所述P环和N截止环内端的上侧以及P环内侧至N截止环内端之间的外延层上侧制作场氧层;

在所述P阱及其下侧的外延层内刻蚀形成若干呈间隔设置的沟槽;

在所述沟槽下侧的外延层内制作P型埋层;

在所述沟槽的底部上侧长氧化层;

在所述氧化层上侧的沟槽的侧壁上制作形成肖特基势垒;

在所述外延层的上侧、场氧层的内端上侧及沟槽内制作形成阳极金属层,在所述N截止环的上侧和场氧层的外端上侧制作形成截止环金属层,在所述衬底的下侧制作阴极金属层。

2.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述氧化层的厚度为位于P阱下侧的沟槽深度的二分之一。

3.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述P阱、P环和N截止环由以下方式制作形成:

在所述外延层的上侧长掩蔽层;

对所述外延层注入硼元素,注入能量为60Kev-80Kev,注入剂量为2E12-4E12,以形成所述P阱;

对所述外延层注入硼元素,注入能量为120Kev-160Kev,注入剂量为2E15-4E15,以形成所述P环;

对所述外延层注入磷元素,注入能量为60Kev-80Kev,注入剂量为2E15-4E15,以形成所述N截止环。

4.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述P型埋层的宽度大于沟槽的宽度,且其通过注入硼元素形成,注入能量为40Kev-60Kev,注入剂量为1E15-2E15。

5.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述肖特基势垒通过对所述沟槽的侧壁依次进行重金属溅射、退火和势垒金属淀积操作形成。

6.根据权利要求5所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述退火的温度为800℃-950℃,所述重金属为Pt靶材,所述势垒金属为NiPt合金。

7.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述阳极金属层和截止环金属层均为由下向上依次设置的钛层、镍层和银层,所述钛层的厚度为0.1μm,所述镍层的厚度为0.2μm,所述银层的厚度为1μm。

8.根据权利要求1所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件的制造方法,其特征在于,所述阴极金属层包括由上向下依次设置的钛层、镍层、锡铜合金层和银层。

9.一种沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件,其特征在于,包括N型衬底,所述衬底的上侧依次设有缓冲层和外延层,所述外延层内由内向外依次制作P阱、若干呈间隔设置的P环和N截止环,所述P环和N截止环内端的上侧以及P环内侧至N截止环内端之间的外延层上侧设有场氧层,所述P阱及其下侧的外延层内设有若干呈间隔设置的沟槽,所述沟槽下侧的外延层内制作P型埋层,所述沟槽的底部上侧设有氧化层,所述氧化层上侧的沟槽的侧壁上设有肖特基势垒,所述外延层的上侧、场氧层的内端上侧及沟槽内设有阳极金属层,所述N截止环的上侧和场氧层的外端上侧设有截止环金属层,所述衬底的下侧设有阴极金属层。

10.根据权利要求9所述的沟槽侧壁集成SBD结构的FRD器件,其特征在于,所述氧化层的厚度为位于P阱下侧的沟槽深度的二分之一。

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