[发明专利]一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法及系统有效

专利信息
申请号: 202111365036.6 申请日: 2021-11-17
公开(公告)号: CN114021241B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 钟雨田;肖华波;郑宇豪;梅稚平;胡荣兵;杨笑天 申请(专利权)人: 中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司
主分类号: G06F30/13 分类号: G06F30/13;G06T17/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 史丽红
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 不均匀 软弱 结构 剪断 参数 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,其特征在于:包括步骤:

获取工程区结构面的空间分布特征、产状、延伸范围以及工程地质性状特征;

基于所述工程区结构面的空间分布特征、产状、延伸范围,通过三维建模软件平台构建结构面三维模型;

根据结构面工程地质性状特征对所述工程区结构面进行宏观区域划分,在不同划分区域分别选取勘探揭示点,获取每个勘探揭示点的抗剪断参数;

将每个所述勘探揭示点的抗剪断参数输入结构面三维模型,并进行插值运算,获得含有抗剪断参数信息的三维结构面地质模型;

匹配工程设计所涉及的空间部位与所述三维结构面地质模型对应区域,提取该区域的抗剪断参数;

其中,所述勘探揭示点包括作为各个划分区域内的结构面代表性出露点的试验点;

其中,获取每个勘探揭示点的抗剪断参数的方式为:

获取所述试验点的抗剪断参数;

获取所述试验点的结构面黏粒含量;

统计所述试验点的抗剪断参数与对应结构面黏粒含量的相关性;

获取其余所有勘探揭示点的结构面黏粒含量;

根据抗剪断参数与对应结构面黏粒含量的相关性以及其余所有勘探揭示点的结构面黏粒含量,进行内插法换算,得到所有勘探揭示点的结构面抗剪断参数;

其中,获取每个试验点的抗剪断参数的方式为:

对试验点的结构面进行取样室内或原位剪切试验,获得所述试验点的抗剪断参数。

2.根据权利要求1所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,其特征在于:所述工程地质性状特征包括结构面的粗糙度、起伏差、张开度、充填情况。

3.根据权利要求1所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,其特征在于:在获取工程区结构面的空间分布特征、产状、延伸范围以及工程地质性状特征后,还包括步骤:

基于所述工程区结构面的工程地质性状特征,核实该工程区结构面是否属于工程性状不均匀软弱结构面,如果属于,则继续后续步骤;如果不属于,则中止后续步骤。

4.根据权利要求1所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,其特征在于:获取工程区结构面的空间分布特征、产状、延伸范围以及工程地质性状特征的方式为:

设置多个遍布所述工程区的勘探点,对所述勘探点进行地质调查和平硐勘探,获得所述勘探点周边的结构面空间分布特征、产状、延伸范围以及工程地质性状特征。

5.根据权利要求1所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,其特征在于:所述三维建模软件平台为GOCAD。

6.一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值系统,其特征在于,基于权利要求1所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值方法,包括:

信息获取模块,用于获取工程区结构面空间分布特征、产状、延伸范围以及工程地质性状特征;

模型构建模块,用于基于所述工程区结构面的空间分布特征、产状、延伸范围,构建结构面三维模型;

区域划分模块,根据结构面工程地质性状特征对所述工程区结构面进行宏观区域划分;

抗剪断参数获取模块,用于在不同划分区域分别选取勘探揭示点,并获取每个勘探揭示点的抗剪断参数;

信息处理模块,用于将每个所述勘探揭示点的抗剪断参数输入结构面三维模型,并进行插值运算,获得含有抗剪断参数信息的三维结构面地质模型;

数据提取模块,用于匹配工程设计所涉及的空间部位与所述三维结构面地质模型对应区域,提取该区域的抗剪断参数。

7.根据权利要求6所述的一种不均匀软弱结构面抗剪断参数取值系统,其特征在于,包括:

判断模块,用于根据所述工程区结构面的工程地质性状特征,核实该工程区结构面是否属于工程性状不均匀软弱结构面。

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