[发明专利]一种基于无线抄表集中器的干扰探测方法

权利要求书

1.一种基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，包括多个具备干扰信号探测功能的集中器；

所述集中器探测获取干扰信号的特征信息；

基于各个集中器获取的特征信息及各个集中器所在的位置，确定出干扰信号的类型及干扰信号源所在的位置区域；

所述特征信息包括信号频点、信号强度和检测时间；

通过所述信号频点确定出所述干扰信号的类型。

2.根据权利要求1所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述确定出干扰信号源所在的位置区域包括：

集中器根据检测到的干扰信号的信号强度，计算出干扰信号源距离集中器安装位置的距离D；

以所述集中器安装位置为圆心、距离D为半径画出的圆形区域即为干扰信号源所在的大致区域。

3.根据权利要求2所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述距离D的计算公式为：D=1.15(25x-980),式中x为信号强度的绝对值，其中，139≥x≥40。

4.根据权利要求2所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述多个具备干扰信号探测功能的集中器包括第一集中器和第二集中器；

计算出干扰信号源距离第一集中器的距离为D1，干扰信号源距离第二集中器的距离为D2；

以第一集中器所在位置为圆心、距离D1为半径画出圆C1，以第二集中器所在位置为圆心、距离D2为半径画出圆C2，则C1与C2的交集区域即为干扰信号源所在区域。

5.根据权利要求2所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述多个具备干扰信号探测功能的集中器包括第一集中器、第二集中器和第三集中器；

计算出干扰信号源距离第一集中器的距离为D1，干扰信号源距离第二集中器的距离为D2，干扰信号源距离第三集中器的距离为D3；

以第一集中器所在位置为圆心、距离D1为半径画出圆C1，以第二集中器所在位置为圆心、距离D2为半径画出圆C2，获取C1与C2的交点所在位置，利用距离D3对交点进行验证以获得干扰信号源所在位置。

6.根据权利要求1所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述集中器包括：

通讯模块；

控制模块，通过所述通讯模块与监测系统无线连接；

干扰信号探测模块，与所述控制模块的I/O端口及SPI接口连接。

7.根据权利要求6所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述干扰信号探测模块包括sx1278芯片及其外围电路；所述控制模块包括单片机。

8.根据权利要求7所述的基于无线抄表集中器的干扰探测方法，其特征在于，所述外围电路上连接有晶振芯片X1和射频开关U2；

所述晶振芯片X1连接于所述sx1278芯片U1的引脚XTA与引脚XTB之间；

所述射频开关U2的引脚RF1、RF2分别与所述sx1278芯片U1的引脚RFI_LF、PA_BOOST连接。